對(duì)高性能電子產(chǎn)品進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器等）。仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，在電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域這個(gè)設(shè)備也有在廣泛應(yīng)用，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

可程式精密高溫老化試驗(yàn)機(jī)基礎(chǔ)參數(shù)

●RT+10℃～150℃約20分鐘

●RT+10℃～200℃約25分鐘

●RT+10℃～260℃約30分鐘

●RT+10℃～300℃約35分鐘

●RT+10℃～350℃約35分鐘

●RT+10℃～400℃約40分鐘

●RT+10℃～450℃約45分鐘

●RT+10℃～500℃約50分鐘

結(jié)構(gòu)示意圖

可程式精密高溫老化試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn) 

●GBT11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
●GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法
●GBT2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法