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徠卡（Leica）DM4M光學(xué)顯微鏡是徠卡顯微系統(tǒng)公司（LeicaMicrosystems）推出的一款模塊化正置顯微鏡，專為材料科學(xué)、工業(yè)檢測和質(zhì)量控制等領(lǐng)域設(shè)計。其結(jié)合了光學(xué)性能、靈活的配置和智能化
地質(zhì)冷熱臺搭配舜宇CX40P光學(xué)顯微鏡地質(zhì)冷熱臺支持與各類顯微鏡（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、光譜儀（紅外光譜儀、拉曼光譜儀、熒光光譜儀等）等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用，進行變溫光學(xué)
XRD冷熱臺適配布魯克D8ADVANCEX-射線衍射儀實現(xiàn)-190~600℃的XRD原位變溫測試環(huán)境。XRD液氮原位冷熱臺是一款用于X-射線衍射實驗的裝置，可在-190~600℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫，
拉曼光譜技術(shù)以其非破壞性、無需制樣、可提供豐富分子振動信息的特點，在化學(xué)、物理、材料及生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。然而，常溫下的拉曼光譜只能提供物質(zhì)靜態(tài)的分子結(jié)構(gòu)快照。當(dāng)物質(zhì)經(jīng)歷溫度變化時，其分子間的
X射線衍射（XRD）技術(shù)是解析材料晶體結(jié)構(gòu)、物相組成及微觀應(yīng)變的“金標準”。然而，傳統(tǒng)XRD測試多在室溫下進行，只能獲取材料靜態(tài)的結(jié)構(gòu)信息。在實際應(yīng)用中，材料往往經(jīng)歷著復(fù)雜的高低溫環(huán)境，其晶體結(jié)構(gòu)、相
微型探針冷熱臺采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)樣品臺-190~600℃范圍內(nèi)精準控制，可與電學(xué)儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。客戶群體：高校實驗室、科研院所、半導(dǎo)體實驗室等。設(shè)備
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