目錄:安徽澤攸科技有限公司>>掃描電鏡原位樣品臺(tái)>>納米力學(xué)臺(tái)>> SEM納米力學(xué)臺(tái)
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更新時(shí)間：2026-05-13 09:21:07瀏覽次數(shù)：128評(píng)價(jià)
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澤攸科技PicoFemto NI-100 掃描電鏡SEM納米力學(xué)臺(tái)是研究材料變形行為和微觀失效機(jī)制的重要工具，能夠精確量化微納米級(jí)材料的力學(xué)行為，并結(jié)合掃描電鏡原位觀測(cè)。納米力學(xué)樣品臺(tái)可以選配多種加載模塊：拉伸、壓縮、壓痕等。
• SEM納米力學(xué)臺(tái)特色
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 加熱，光學(xué)等多種模塊可選
▲ 閉環(huán)高精度、大量程力學(xué)測(cè)量
▲ 閉環(huán)納米尺度微動(dòng)臺(tái)控制，位移更加精確
▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選
▲ 超高穩(wěn)定性，輕松獲得高質(zhì)量原位視頻
• 應(yīng)用案例
納米力臺(tái)拉伸過(guò)程（左） 納米力臺(tái)壓縮過(guò)程（右）
納米力臺(tái)微球壓碎過(guò)程
• 技術(shù)參數(shù)
名稱 | 參數(shù) | |
功能 | 壓痕，壓縮，拉伸 | |
載荷量程 | 100mN | |
力傳感分辨率 | 10uN | |
響應(yīng)時(shí)間 | 50ms | |
微調(diào)臺(tái)X/Y | 模式 | 閉環(huán)控制 |
行程 | 100(±20)um | |
精度 | 20nm | |
粗調(diào)臺(tái)X/Y/Z | 模式 | 開(kāi)環(huán)控制 |
行程 | XY軸±10mm、Z軸行程10mm | |
最小步長(zhǎng) | ≤1nm | |
標(biāo)準(zhǔn)納米力臺(tái)尺寸 | 130*65*55mm | |
裸臺(tái)重量 | 約300g(壓痕) | |
樣品尺寸 | ≤30*30mm | |
選配模塊 | 加熱(最高400℃)、加電 | |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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