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移動端訪問更便捷ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內,準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 應用領域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,綜合 |
1.簡介
FR-IntSphere-AIO是一款獨立、緊湊且便攜的解決方案,能夠在寬光譜范圍內對任意表面的反射分量進行快速、細致且精確的表征。借助FR-IntSphere-AIO,用戶可以精確測量 380-1000nm 光譜范圍內的全反射、漫反射和鏡面反射。 FR-IntSphere-AIO將穩(wěn)定的VIS/NIR光源、高品質的30mm 或50mm積分球,以及高靈敏度、高光學分辨率的光譜儀集成在一個緊湊的外殼中,無需額外模塊即可實現(xiàn)精確的反射率測量。內置的積分球采用了高反射率的朗伯體PTFE(聚四氟乙烯)涂層,樣品端口直徑為 10mm,設計人性化,操作
簡便。入射端口和出射端口相對于法線方向呈 8°角布置,通過光陷阱抑制樣品的鏡面反射,從而實現(xiàn)對漫反射率的測量。當用與積分球內表面相同材料制成的光澤陷阱替換光陷阱時,即可測量總反射率。
2.產品特點

3.技術規(guī)格

工作原理
反射率測量的工作原理。將樣品放置在頂部,待測面朝向積分球的樣品口。光譜儀和光源安裝在機箱內部,并連接到相應的端口。

使用 FR-IntSphere-AIO-LC ,對高反射率 PTFE(聚四氟乙烯)、未拋光硅片(Si)以及黑色陽極氧化鋁樣品進行的總反射率、漫反射率和鏡面反射率測量結果。
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ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內,準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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