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株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立的公司，也是日本*發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史的與技術(shù)背景的專業(yè)廠商，主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。其中測(cè)定部門為*代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)界占有一席無(wú)法被取代的地位。
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KOSAKA小坂臺(tái)階儀產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬(wàn)-30萬(wàn) |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
KOSAKA小坂臺(tái)階儀詳細(xì)信息
KOSAKA小坂臺(tái)階儀
株式會(huì)社小坂研究所(KOSAKA)，這家擁有深厚技術(shù)底蘊(yùn)的日本專業(yè)廠商，自1950年創(chuàng)立以來(lái)，便致力于精密測(cè)定的研究與創(chuàng)新。其中，KOSAKA ET150臺(tái)階儀是該公司的杰出代表，它基于Windows XP操作系統(tǒng)，為各類表面提供全面的形貌分析。無(wú)論是半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片，還是薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子等，ET150都能應(yīng)對(duì)自如，實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量。其的金剛石(鉆石)探針接觸測(cè)量方式，使得表面形貌分析變得簡(jiǎn)單而可靠。此外，ET150還具備多種功能，如測(cè)量表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度以及薄膜應(yīng)力等。
KOSAKA小坂臺(tái)階儀配備了不同型號(hào)的探針，并提供了程序控制接觸力和垂直范圍的探頭。其彩色CCD原位采集設(shè)計(jì)使得探針工作狀態(tài)一目了然，大大提高了測(cè)試區(qū)域的定位準(zhǔn)確性。同時(shí)，ET150還具備二次元表面解析功能，可輕松測(cè)量段差，且具有高精度、高分辨率以及出色的再現(xiàn)性。此外，其FPD面板顯示使得微細(xì)表面形狀、段差、粗度等的測(cè)定變得簡(jiǎn)單易懂。更值得一提的是，其低測(cè)定力設(shè)計(jì)使得軟質(zhì)材料的測(cè)定也成為可能。
縱軸可達(dá)到的最高分辨率為0.1納米，而橫軸的最高分辨率則可達(dá)到0.1微米，這使得KOSAKA ET150臺(tái)階儀能夠精確地測(cè)定微細(xì)形狀。
其測(cè)定力范圍可靈活設(shè)定，從10至500微牛頓，或1至50毫克力，適應(yīng)不同材料的測(cè)量需求。該臺(tái)階儀特別適用于軟質(zhì)材料的表面測(cè)量，例如COLOR FILTER、SPACER以及PI等。
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