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2026
05-27如何校準(zhǔn)可調(diào)諧激光器的輸出波長準(zhǔn)確性與重復(fù)性？
可調(diào)諧激光器廣泛應(yīng)用于光譜分析、光纖通信、精密測量等領(lǐng)域，其輸出波長的準(zhǔn)確性與重復(fù)性是衡量儀器性能的關(guān)鍵指標(biāo)。準(zhǔn)確性指激光器實際輸出波長與設(shè)定波長之間的一致性，重復(fù)性則反映多次調(diào)諧至同一波長時的輸出穩(wěn)定程度。校準(zhǔn)這兩項參數(shù)，是保證測量結(jié)果可靠性的前提。校準(zhǔn)波長準(zhǔn)確性，首先需要建立可追溯的波長參考標(biāo)準(zhǔn)。常用的方法是將可調(diào)諧激光器的輸出光引入波長計或光譜分析儀，這些儀器的波長測量基準(zhǔn)應(yīng)溯源至國家或國際標(biāo)準(zhǔn)。校準(zhǔn)過程中，在激光器整個調(diào)諧范圍內(nèi)選取若干校準(zhǔn)點，記錄各設(shè)定波長對應(yīng)的實際測量值，計算偏差并生2026
05-27深耕中國十余載 | 先鋒科技攜手 Acktar 賦能光學(xué)雜散光抑制
關(guān)于AcktarLtd.Acktar是光吸收黑色涂層（基于真空鍍膜技術(shù)）開發(fā)、工業(yè)化及生產(chǎn)領(lǐng)域的世*技術(shù)領(lǐng)*者。由ZviFinkelstein和DinaKatsir于1994年共同創(chuàng)立，并于1995年發(fā)布首*鍍黑涂層產(chǎn)品。當(dāng)時，高性能光學(xué)系統(tǒng)中的雜散光問題嚴(yán)重限制了圖像質(zhì)量與測量精度。傳統(tǒng)解決方案存在缺陷，如黑漆在真空中會放氣、陽極氧化處理反射率仍較高、機械擋板又無法消除表面反射。Acktar的目標(biāo)是開發(fā)一種更優(yōu)的、純粹的表面吸收方案。Acktar的核心技術(shù)在Acktar，技術(shù)不是輔助功能，而是2026
05-262026
05-25低噪聲GHz飛秒激光器在精密測量中的應(yīng)用探討：雙光梳干涉相位壓縮技術(shù)
在雙梳干涉測量中，相位是一個關(guān)鍵參數(shù)，以下是其核心要點：相位的定義與來源雙梳干涉測量使用兩個重復(fù)頻率略有差異的光頻梳（如frep和frep+Δf）。兩梳光波在探測器上干涉，其相位差Δ?由光程差、樣品特性及梳的初始相位決定，反映了光波在傳播和與物質(zhì)相互作用后的相位變化。相位與測量信息的關(guān)系距離測量：在雙梳測距中，相位差與光程差直接相關(guān)，通過測量Δ?可計算距離，精度可達納米級。光譜分析：在雙梳光譜學(xué)中，相位隨頻率變化，可揭示樣品的吸收、色散等特性，用于分子指紋識別、氣體濃度測量等。表面形貌測量：在雙2026
05-19臺式 / 模塊雙選型！SRS 銣鐘一站式滿足時頻系統(tǒng)集成需求
當(dāng)一個通信基站出現(xiàn)頻率漂移，整個區(qū)域的信號可能陷入混亂；當(dāng)一臺雷達的時間基準(zhǔn)發(fā)生偏差，目標(biāo)的距離和速度信息就會失真。在時頻技術(shù)領(lǐng)域，銣原子鐘扮演著“標(biāo)準(zhǔn)答案”的角色——它不制造時間，而是將銣原子天然的躍遷頻率轉(zhuǎn)化為可用的時頻信號，為各類精密系統(tǒng)提供可靠的時間基準(zhǔn)。美國SRS（StanfordResearchSystems）是原子鐘領(lǐng)域的代表性品牌之一。本文介紹的FS725臺式銣鐘和PRS10銣原子振蕩器，正是SRS在該領(lǐng)域的兩款代表產(chǎn)品。二者共享核心的銣振蕩技術(shù)，但在產(chǎn)品形態(tài)和應(yīng)用場景上各有側(cè)重2026
05-15殘余氣體分析儀的核心工作原理：質(zhì)譜法的藝術(shù)
在高真空與超高真空技術(shù)所構(gòu)建的潔凈、無擾動環(huán)境中，殘余氣體——即系統(tǒng)內(nèi)除了被抽除氣體外所殘留的所有氣體分子——是影響工藝精度、產(chǎn)品良率、實驗可重復(fù)性及設(shè)備壽命的核心變量。殘余氣體分析儀，常被稱為RGA，正是用于實時、在線、定性及定量地檢測和分析這些微量氣體的精密儀器。殘余氣體分析儀的核心工作原理：質(zhì)譜法的藝術(shù)1.電離：從真空系統(tǒng)中抽取的微量氣體，首先進入RGA的離子源。常用的是熱陰極電離規(guī)，其核心是一個熾熱的燈絲（如鎢絲、錸絲）發(fā)射電子。這些電子在電場加速下，與氣體分子碰撞，通過電子碰撞電離過程2026
05-132026
05-132026
05-12從噪聲中淘金！SRS 鎖相放大器，精準(zhǔn)提取 fA/nV 級信號
復(fù)雜噪聲環(huán)境下的微弱信號檢測，往往決定了一項實驗的成敗。精準(zhǔn)提取所需信號的能力，是測評一款鎖相放大器的重要標(biāo)準(zhǔn)。鎖相放大器：從噪聲中提取微弱信號的“專家”在光電探測、材料科學(xué)、物理化學(xué)交叉研究等領(lǐng)域，科研人員常常面臨一個共同的挑戰(zhàn)：如何在強噪聲背景下，精準(zhǔn)提取極其微弱的待測信號？當(dāng)信號被噪聲淹沒時，常規(guī)的放大手段往往無能為力——噪聲和信號一起被放大，信噪比并沒有改善。這時就需要用上一種專門的儀器：鎖相放大器。鎖相放大器的核心原理是相敏檢測技術(shù)——它只對與參考信號頻率相同的分量進行響應(yīng)，而其他頻率2026
05-11375nm–12μm 超寬覆蓋！激光波長計適配紫外至中紅外測量
激光器的波長輸出是否精準(zhǔn)，往往決定了一項實驗的成敗。而測量波長的那臺儀器，其自身的精度和穩(wěn)定性，則是這一切判斷的基石。在激光研發(fā)、高分辨率光譜學(xué)、光化學(xué)、原子冷卻與捕獲等前沿研究領(lǐng)域，科研人員常常面臨一個看似基礎(chǔ)卻至關(guān)重要的問題：如何準(zhǔn)確獲知激光器的真實輸出波長？波長偏差幾皮米，可能讓整個實驗的結(jié)論失效。這時候，一臺精度可靠、無須頻繁人工干預(yù)的連續(xù)激光波長計，就成為一個基本的實驗保障。美國BristolInstruments是一家專注于生產(chǎn)和研發(fā)激光波長計及激光頻譜分析設(shè)備的專業(yè)企業(yè)，在高精度激2026
05-08傅里葉紅外光譜(FTIR)中紅外探測器的性能優(yōu)化與應(yīng)用進展
一、技術(shù)原理傅里葉變換紅外光譜(FTIR)技術(shù)基于干涉測量法和傅里葉變換數(shù)學(xué)算法，通過探測樣品對紅外光的吸收特征來解析分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成。1.核心工作流程紅外光產(chǎn)生：由紅外光源(如硅碳棒、陶瓷光源)發(fā)出連續(xù)波長的紅外光，覆蓋中紅外(4000-400cm?1)等光譜范圍干涉調(diào)制：紅外光經(jīng)邁克爾遜干涉儀(核心部件，由定鏡、動鏡和分束器組成)后變成干涉光。動鏡以恒定速度作直線運動，使兩束光形成光程差，產(chǎn)生相長干涉和相消干涉樣品作用：干涉光照射樣品，樣品分子吸收特定頻率的紅外光，導(dǎo)致分子振動能級躍遷信號2026
05-072026
05-07寬頻穩(wěn)定輸出！SRS 光學(xué)斬波器，科研光譜測量核心調(diào)制利器
在微弱光信號檢測、光譜分析與精密光學(xué)測量場景中，光學(xué)斬波器是實現(xiàn)信號調(diào)制、提升信噪比的關(guān)鍵部件，它能將連續(xù)光調(diào)制成周期性斷續(xù)光，為鎖相放大等檢測手段提供穩(wěn)定參考，讓原本易被噪聲淹沒的微弱信號清晰可測。一、光學(xué)斬波器工作原理光學(xué)斬波器核心是通過帶槽葉片的勻速旋轉(zhuǎn)，周期性遮擋與透過光束，把連續(xù)光轉(zhuǎn)化為固定頻率的調(diào)制光信號。搭配鎖相放大器后，可構(gòu)建微弱光檢測系統(tǒng)，精準(zhǔn)提取目標(biāo)信號、抑制環(huán)境干擾，廣泛適配電學(xué)、磁學(xué)、光譜學(xué)等精密測試需求。二、光學(xué)斬波器核心應(yīng)用行業(yè)光纖通信與傳感：光纖放大器特性測試、光纖2026
05-07緊湊高效高穩(wěn)定！半導(dǎo)體激光器賦能光譜實驗與機器視覺
在精密光學(xué)與光電子應(yīng)用領(lǐng)域，半導(dǎo)體激光器憑借小巧體積與高效輸出，成為各類系統(tǒng)的核心光源。德國RGBLaserSystems的LambdaBeam系列，作為小型固態(tài)激光器代表，以穩(wěn)定性能與靈活配置，適配科研與工業(yè)多場景需求。一、半導(dǎo)體激光器工作原理半導(dǎo)體激光器是以半導(dǎo)體材料為增益介質(zhì)的光電器件，核心基于受激輻射原理：粒子數(shù)反轉(zhuǎn)：對半導(dǎo)體PN結(jié)施加正向電壓，電流注入后激發(fā)電子與空穴在有源區(qū)復(fù)合，形成粒子數(shù)反轉(zhuǎn)分布，為光放大提供基礎(chǔ)。諧振腔放大：利用半導(dǎo)體晶體解理面構(gòu)成諧振腔，光子在腔內(nèi)往返時激發(fā)更多2026
04-302026
04-30光譜式亮度計：驅(qū)動FPD產(chǎn)線邁向高速高精度測量的核心引擎
在平板顯示（FPD）制造領(lǐng)域，從CCFL、LED背光LCD到OLED，顯示技術(shù)的每一次迭代都對亮度與色度的測量提出了更嚴(yán)苛的要求。傳統(tǒng)的光譜式測量雖能提供最高精度，但其漫長的測試時間一直是制約產(chǎn)線效率提升的瓶頸。PhotoResearch推出的A-TAKT™系列光譜式亮度計，正是為解決這一核心矛盾而生，它將實驗室級的光譜精度與產(chǎn)線所需的實時速度結(jié)合，重新定義了產(chǎn)線光學(xué)檢測的標(biāo)準(zhǔn)。A-TAKT™系列：為產(chǎn)線速度而生的光譜利器A-TAKT™系列包含三款針對性機型，全面覆蓋產(chǎn)線不同環(huán)節(jié)的測試需求：V-2026
04-30輻射亮度計：高精度光學(xué)測量的核心技術(shù)與應(yīng)用實踐
輻射亮度計作為光學(xué)測量領(lǐng)域的關(guān)鍵儀器，廣泛應(yīng)用于顯示技術(shù)、LED測試、醫(yī)療色度分析、質(zhì)量控制及人類因素研究等多個行業(yè)。它通過精確測量光源在特定方向上的輻射亮度，為產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)控和科學(xué)研究提供可靠的數(shù)據(jù)支持。一、工作原理與核心價值基于光譜輻射測量原理，通過探測器件接收目標(biāo)光源發(fā)出的輻射，經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)分光和信號處理，最終得到光譜功率分布、亮度、色度、相關(guān)色溫等關(guān)鍵參數(shù)。其核心價值在于能夠非接觸、高精度地量化光源的光學(xué)特性，尤其在現(xiàn)代顯示技術(shù)、固態(tài)照明及精密制造。1、技術(shù)演進：從PR-650到PR2026
04-292026
04-28分光干涉黑科技！膜厚測試儀快速解析多層膜層光學(xué)參數(shù)
在半導(dǎo)體、光學(xué)薄膜、精密涂層等領(lǐng)域，精準(zhǔn)、穩(wěn)定、高效的膜厚與光學(xué)常數(shù)檢測，是保障產(chǎn)品品質(zhì)與工藝穩(wěn)定的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。日本大塚電子OPTM半導(dǎo)體膜厚測試儀，憑借成熟的分光干涉技術(shù)與實用化設(shè)計，成為行業(yè)高精度檢測的可靠選擇。一、OPTM半導(dǎo)體膜厚測試儀工作原理OPTM半導(dǎo)體膜厚測試儀采用分光干涉法，通過顯微分光系統(tǒng)精準(zhǔn)測量樣品的絕對反射率，結(jié)合光學(xué)算法解析，快速得到多層膜厚度、折射率n、消光系數(shù)k等關(guān)鍵參數(shù)，全程非接觸、無損傷，可穩(wěn)定完成微小區(qū)域的高精度檢測。構(gòu)成圖二、核心應(yīng)用行業(yè)·半導(dǎo)體制造：晶圓薄膜、2026
04-27PDH鎖定技術(shù)用于光頻梳鎖定和超低時間抖動的微波頻率發(fā)生
PDH（Pound-Drever-Hall）feedback反饋與feedforward前饋鎖定技術(shù)PDH（Pound-Drever-Hall）Feedback反饋鎖定技術(shù)是經(jīng)典的超窄線寬激光反饋穩(wěn)定技術(shù)，優(yōu)點是魯棒性和高信噪比，可將激光器穩(wěn)定至參考腔共振寬度的10-5以下，有記錄的可將kHz線寬級別的CW穩(wěn)頻DFB激光器進一步穩(wěn)頻，實現(xiàn)mHz級超窄線寬超穩(wěn)激光器。PDHfeedback反饋穩(wěn)定系統(tǒng)大致的架構(gòu)如下：待進一步穩(wěn)定的激光器，電光調(diào)制器EOM,光學(xué)參考腔Cavity，光電探測器（PD）掃一掃訪問手機商鋪
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