薄膜厚度均勻性是包裝、電子、光學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)指標(biāo)。直播將現(xiàn)場(chǎng)實(shí)測(cè)多種薄膜,展示FTT系列測(cè)厚儀的無(wú)損、高精度測(cè)量能力,并探討厚度偏差對(duì)材料阻隔性、光學(xué)性能及生產(chǎn)工藝的影響。
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非晶納米晶合金帶材疊片系數(shù)測(cè)試測(cè)厚儀
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