光學(xué)元件表面質(zhì)量
光學(xué)元件表面質(zhì)量
光學(xué)鏡片的表面質(zhì)量——光潔度是用來衡量光學(xué)產(chǎn)品表面特性,是評估光學(xué)表面缺陷質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo),它直接影響鏡片的透光率、成像質(zhì)量和激光損傷閾值等性能。光學(xué)表面缺陷是指光學(xué)元件表面的不wan美或損壞,這些缺陷按照特定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分類和評估,以便判斷其對最終產(chǎn)品性能的影響。目前光學(xué)行業(yè)對于光學(xué)元件表面檢測的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn),大多為美國jun用標(biāo)準(zhǔn)(MIL-PRF-13830B)、國標(biāo)(GB/T1185-2006)和ISO 10110-7。索雷博、愛特蒙特以及麓邦等常見廠家的表面光潔度均以通用且直觀的美國jun用標(biāo)準(zhǔn)(MIL-PRF-13830B)為依據(jù)。
一、光學(xué)表面缺陷分類和等級
1、美國jun用標(biāo)準(zhǔn)(MIL-PRF-13830B)


圖1 劃痕和麻點示意圖和真實圖片
光學(xué)元件的表面光潔度標(biāo)注參數(shù)(如 40/20,60/40),定量描述了光學(xué)表面劃痕和麻點這兩種主要外觀缺陷的最大允許尺寸,規(guī)定將“長寬比大于 4:1 的表面缺陷”定義為劃痕,“長寬比小于 4:1 的表面缺陷”定義為麻點,標(biāo)準(zhǔn)格式為S/D(scratch/dig),S和D為具體的數(shù)值。
圖2 表面光潔度測試板
S代表劃痕的級號,限制劃痕大小,道子、亮路、傷、擦痕都稱為劃痕。S的數(shù)值代表了單位寬度 0.001 mm的倍數(shù)。表面光潔度40/20,則允許的劃痕寬度≤0.001 mm x 40=0.04 mm
D代表麻點的級號,限制麻點大小,斑點、坑點、點子都稱為麻點。D的數(shù)值代表了單位麻點直徑 0.01 mm的倍數(shù)。表面光潔度40/20,則允許麻點直徑為≤0.01 mm x 20=0.2 mm
常見麻點級號D對應(yīng)直徑如下表,直徑為 1 mm的麻點將表示為麻點號數(shù) #100,直徑為 0.5 mm的麻點將表示為麻點號數(shù) #50。
表1 MIL-劃痕和麻點的等級和尺寸
劃痕 等級 | 5 | 10 | 20 | 40 | 60 | 80 | 120 | 麻點 等級 | 5 | 10 | 20 | 30 | 40 | 50 | 70 | 100 |
劃痕尺寸 | 0.005 x18 | 0.01 x18 | 0.02 x18 | 0.04 x18 | 0.06 x18 | 0.08 x18 | 0.12 ×18 | 麻點尺寸 | 0.05 | 0.10 | 0.20 | 0.30 | 0.40 | 0.50 | 0.70 | 1.00 |
注意:18mm是檢測時的統(tǒng)一測量基準(zhǔn)長度,劃痕是否合格只看寬度是否達(dá)標(biāo),和實際長度無關(guān)。這個數(shù)字號碼并不是直接對應(yīng)劃痕或麻點具體的尺寸,而是與標(biāo)準(zhǔn)劃痕比較后的等級。
在光學(xué)零件圖紙中,光潔度S/D是判斷零件質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo),級號越小,表面的劃痕和麻點占比就越小,如表面光潔度 40/20 的鏡片相比于 60/40 的鏡片,表面更干凈,缺陷更少。
2、國際標(biāo)準(zhǔn)(ISO 10110-7)
中國國標(biāo)(GB:T 1185-2006)與國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 10110-7基本接軌,表示方法和含義相同。
例如:5/3×0.04。5/為缺陷標(biāo)記,3是允許缺陷數(shù)量,0.04是缺陷等級(指缺陷面積的平方根,單位mm) ,允許在總?cè)毕菝娣e不變的情況下進(jìn)行等拆分。
國際標(biāo)準(zhǔn)不同的缺陷標(biāo)記代表不同含義:
5x0.16:指所有不清晰的區(qū)域不能超過5個面積平方根為0.16的坑或劃痕。
C3x0.16:表明鍍膜污點區(qū)域不能超過3個面積為0.16的區(qū)域。
L4x0.25:表明長劃痕的總寬度不超過4個0.25mm。
E 0.4:表明邊緣崩邊不能向內(nèi)延伸超過0.4mm。
二、劃痕和麻點檢驗
環(huán)境:通常以黑色屏幕為背景。
光源:使用36V電壓、60W-100W的普通白熾燈,或在一些廠家指定標(biāo)準(zhǔn)的光源。
觀察方式:在透射光或反射光下,透射法(光源在零件后)用于透明元件?(如透鏡、濾光片),?反射法(光源在零件前)用于不透明或高反表面?(如反射鏡、鍍膜元件),用肉眼或4-10倍的放大鏡進(jìn)行觀察。
圖3 表面質(zhì)量透射和反射的檢驗場景
方法:檢驗時需轉(zhuǎn)動零件,從不同角度尋找和判斷缺陷。最終,將觀察到的情況與相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣板或文字規(guī)定進(jìn)行比對,以確定是否合格。
例如:Thorlabs劃痕麻點檢測遵循美軍標(biāo)MIL-PRF-13830B,采用72W/110V白熾燈肉眼檢測,僅限定尺寸不限數(shù)量,在受控暗場照明條件下肉眼比較元件的劃痕亮度和標(biāo)準(zhǔn)劃痕麻點對照板的劃痕亮度的最佳匹配程度。
三、不同表面質(zhì)量等級的應(yīng)用領(lǐng)域與場景
等級 | 應(yīng)用場景 | 具體應(yīng)用 | ||
60/40 | 科研領(lǐng)域常規(guī)光學(xué)元件 | 適用于對表面缺陷容忍度較高的基礎(chǔ)研究設(shè)備 | ||
普通成像系統(tǒng) | 低精度監(jiān)控鏡頭、教學(xué)用光學(xué)儀器等 | |||
40/20 | 激光系統(tǒng)核心元件 | 激光諧振腔鏡片、激光傳輸窗口等 | ||
中高精度測量儀器 | 工業(yè)檢測設(shè)備的物鏡 | |||
20/10 | 精密光學(xué)系統(tǒng) | 太空望遠(yuǎn)鏡的鏡組、高分辨率顯微物鏡 | ||
ji端環(huán)境jun用設(shè)備 | 導(dǎo)dan制導(dǎo)系統(tǒng)的光學(xué)窗口、潛艇潛望鏡等 | |||
量子實驗裝置 | 要求超低散射的干涉儀鏡片 | |||
這些等級既體現(xiàn)了對光學(xué)元件表面質(zhì)量的不同要求,也展示了其廣泛的應(yīng)用場景,為光學(xué)元件的選用提供了參考。
四、建議
1、明確需求等級:高等級表面質(zhì)量意味著高成本,若應(yīng)用場景對性能要求不高,選擇低等級的元件可以大幅降低成本。同樣對于放大或成像的應(yīng)用需求,則需要高表面質(zhì)量等級。
2、關(guān)注標(biāo)準(zhǔn)體系:不同廠商可能采用不同的標(biāo)準(zhǔn)體系,選購時要明確標(biāo)注的是ISO標(biāo)準(zhǔn)還是美軍標(biāo),避免因標(biāo)準(zhǔn)誤解導(dǎo)致元件不符合需求。
3、注意運輸與維護(hù):光學(xué)元件的表面缺陷很多是在運輸、安裝過程中產(chǎn)生的,例如靜電吸附、包裝粘附等,因此要做好清潔和防護(hù),清潔時采用廠家推薦的清潔工具和方法,避免銳物劃傷。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
手機版
化工儀器網(wǎng)手機版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號:chem17
掃碼關(guān)注視頻號
















采購中心