手機版
化工儀器網(wǎng)手機版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關(guān)注視頻號
日本YAMADA KOGAKU（山田光學(xué)）高亮度的定向光源怎么檢測半導(dǎo)體晶圓？
這款設(shè)備通過提供超高亮度的定向光源，來輔助人工或機器視覺系統(tǒng)檢測半導(dǎo)體晶圓表面的微觀缺陷。它由YAMADA KOGAKU 公司生產(chǎn)的設(shè)備（如YP-150I、YP-250I及YP-250IL型號）的具體檢測原理和應(yīng)用方式如下：
核心檢測原理
這款設(shè)備本質(zhì)上是一個高亮度鹵素/LED光源裝置，它并不直接“分析”缺陷，而是通過提供極的致的照明條件，讓缺陷“無所遁形”。
- 超高照度（High Illuminance）：
設(shè)備的照度（Illuminance）達到 400,000 Lx以上。
這一亮度是日光（Sunlight）的4倍以上。如此高強度的光線能夠穿透微觀層面，使得通常肉眼難以察覺的微小瑕疵產(chǎn)生明顯的光影變化，從而被觀察到。
- 宏觀觀察（Macro-observation）：
它屬于宏觀觀察照明設(shè)備，主要用于晶圓加工過程中的最終成品表面檢測。
具體檢測對象
在半導(dǎo)體晶圓和液晶基板的加工階段，該設(shè)備主要用于檢測以下類型的缺陷：
異物/外來物（Foreign matter）：附著在表面的灰塵或雜質(zhì)。
劃痕（Scratches）：表面的線性損傷。
拋光不均（Polishing irregularities）：表面處理不平整。
暈染/霧狀缺陷（Haze）：表面出現(xiàn)的模糊或散射現(xiàn)象。
滑移線（Slips）：晶體結(jié)構(gòu)中的滑移痕跡。
技術(shù)規(guī)格與應(yīng)用
| 特性維度 | 詳細說明 |
|---|---|
| 光斑直徑 | 根據(jù)型號不同（YP-150I / YP-250I / YP-250IL），照射直徑分為 30mmφ 或 40mmφ。 |
| 照射距離 | 有效工作距離為 140mm 或 220mm（取決于型號）。 |
| 光源類型 | 提供 鹵素?zé)?/span>（高亮度，色溫約3400K）和 LED（壽命長達10,000小時）兩種選擇。 |
| 應(yīng)用場景 | 直接應(yīng)用于 Wafer and glass substrate inspection（晶圓和玻璃基板檢測）。 |
總結(jié)
簡單來說，這款設(shè)備就像一個超級聚光燈。在檢測時，它將非常強的光線聚焦在晶圓表面（30mm或40mm范圍），利用光的反射、折射和散射原理，將微米甚至納米級的缺陷放大成肉眼或傳感器可見的明暗對比，從而幫助操作人員或自動化系統(tǒng)識別出異物、劃痕等問題。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負(fù)責(zé)，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
采購中心