同類產(chǎn)品
法國普銳斯PRESI助力半導(dǎo)體與電子封裝分析制備方案
隨著半導(dǎo)體、集成電路、封裝和電子制造技術(shù)的快速發(fā)展,微電子元器件正向著高集成度、小型化和高可靠性方向不斷演進。與此同時,對于芯片封裝、PCB線路板、焊點連接、引線框架及電子陶瓷等關(guān)鍵部位的質(zhì)量控制要求也越來越高。
在失效分析、可靠性驗證以及研發(fā)檢測過程中,金相制樣已成為微電子行業(yè)重要環(huán)節(jié)。
微電子元器件金相制樣面臨哪些挑戰(zhàn)?
與傳統(tǒng)金屬材料相比,微電子樣品通常由多種不同性質(zhì)的材料組合而成,例如:
· 硅晶圓
· 銅導(dǎo)線
· 焊料
· 樹脂封裝材料
· 電子陶瓷
· PCB基板
這些材料在硬度、韌性和導(dǎo)熱性能方面存在巨大差異。
在制樣過程中容易出現(xiàn):
· 切割損傷與邊緣崩裂
· 焊點拖尾與組織變形
· 陶瓷層開裂
· 鍍層剝離
· 孔洞、裂紋等缺陷被破壞
· 難以精準(zhǔn)定位目標(biāo)區(qū)域
因此,微電子樣品制備不僅要求高精度設(shè)備,更需要科學(xué)的制樣工藝。
微電子元器件標(biāo)準(zhǔn)金相制備流程
一、精密切割
切割是金相制樣的重要步。
對于PCB、BGA封裝、IGBT模塊、功率器件及半導(dǎo)體封裝樣品,需要采用低變形、低熱影響的精密切割方式。
法國普銳斯PRESI MECATOME系列精密切割機采用高剛性結(jié)構(gòu)設(shè)計,結(jié)合精準(zhǔn)進給控制與高效冷卻系統(tǒng),可有效避免:
· 熱損傷
· 微裂紋產(chǎn)生
· 鍍層脫落
· 焊點變形
保留樣品原始結(jié)構(gòu)。
二、真空鑲嵌
微電子樣品內(nèi)部通常存在:
· 通孔
· 微孔
· 裂紋
· 焊接空洞
采用真空浸漬鑲嵌技術(shù),可以使樹脂充分滲透到缺陷內(nèi)部,避免后續(xù)研磨過程中出現(xiàn)邊緣塌陷和缺陷丟失。
法國普銳斯PRESI全自動鑲嵌系統(tǒng)可實現(xiàn)高質(zhì)量導(dǎo)電或透明鑲嵌,為后續(xù)顯微分析提供可靠保障。
三、精密研磨與拋光
微電子元器件制樣最關(guān)鍵的環(huán)節(jié)是研磨拋光。
由于樣品中同時存在:
· 軟質(zhì)焊料
· 銅層
· 陶瓷
· 硅片
· 環(huán)氧樹脂
傳統(tǒng)制樣方法容易形成浮凸現(xiàn)象,影響真實組織觀察。
法國普銳斯PRESI MECATECH自動研磨拋光機采用單點力控制技術(shù),可針對不同材料實現(xiàn)精準(zhǔn)材料去除,獲得平整無劃痕的觀察表面。
對于封裝和半導(dǎo)體器件,還可結(jié)合振動拋光及電解拋光技術(shù),進一步提升表面質(zhì)量,滿足高倍率顯微分析和EBSD檢測需求。
微電子失效分析中的典型應(yīng)用
法國普銳斯PRESI設(shè)備廣泛應(yīng)用于:
· PCB截面分析
· 焊點質(zhì)量評估
· BGA封裝檢測
· 芯片封裝分析
· 半導(dǎo)體失效分析
· 功率器件檢測
· 電子陶瓷研究
· 新能源電子元件檢測
通過高質(zhì)量制樣,可以清晰觀察:
· 裂紋
· 孔洞
· 分層
· 鍍層厚度
· 焊接缺陷
· 金屬間化合物(IMC)
為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供可靠依據(jù)。
結(jié)語
在微電子與半導(dǎo)體行業(yè)快速發(fā)展的今天,高質(zhì)量金相制樣已成為保證分析結(jié)果準(zhǔn)確性的關(guān)鍵基礎(chǔ)。
作為金相制樣設(shè)備制造商,法國普銳斯-PRESI擁有完整的金相切割機、全自動鑲嵌機、自動研磨拋光機、電解拋光設(shè)備及材料分析解決方案,可為高校、科研院所、半導(dǎo)體企業(yè)、電子制造企業(yè)及第三方檢測機構(gòu)提供專業(yè)的微電子元器件制樣支持。
法國普銳斯PRESI——固態(tài)材料金相制備解決方案專家。
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