在導(dǎo)電薄膜、光學(xué)涂層、柔性電子等領(lǐng)域，薄層電阻（面電阻）的精準(zhǔn)檢測(cè)是把控材料性能與產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)鍵。日本 NAPSON（納普遜）DUORES 手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x，憑借接觸 / 非接觸雙探頭可換、無(wú)損測(cè)量、便攜高效的核心優(yōu)勢(shì)，成為 ITO 膜、Low-E 玻璃、石墨烯等材料研發(fā)標(biāo)定、進(jìn)廠檢驗(yàn)與量產(chǎn)質(zhì)控的全能設(shè)備，適配實(shí)驗(yàn)室、車(chē)間現(xiàn)場(chǎng)的高精度測(cè)量需求。

設(shè)備創(chuàng)新集成兩大測(cè)量原理探頭，無(wú)需多臺(tái)儀器，一鍵切換即可覆蓋全場(chǎng)景檢測(cè)需求，為可換雙探頭手持式測(cè)量方案。

• 非接觸式渦流探頭（無(wú)損）：采用電磁渦流感應(yīng)原理，零接觸、零損傷樣品，測(cè)量范圍 0.5–200Ω/□，光斑 φ25mm，適配脆性薄膜、透明涂層、精密面板，適合大批量快速篩檢。

• 接觸式四探針探頭（高精度）：經(jīng)典四探針?lè)?，?shù)據(jù)可溯源，測(cè)量范圍 0.001–4000Ω/□，針距 3mm、測(cè)量區(qū)域 9mm，覆蓋超低阻到高阻全量程，滿足研發(fā)標(biāo)定、質(zhì)量仲裁需求。

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  整機(jī)采用輕量化手持設(shè)計(jì)，主機(jī)尺寸 W100×D32×H210mm，重量約 350g（不含電池），單手可輕松握持操作。搭載自動(dòng)測(cè)量感應(yīng)技術(shù)，探頭輕觸或放置樣品表面即自動(dòng)啟動(dòng)測(cè)量，無(wú)需繁瑣按鍵，大幅提升檢測(cè)效率。配備長(zhǎng)續(xù)航電池，連續(xù)工作時(shí)長(zhǎng)可達(dá) 24 小時(shí)，適配全天現(xiàn)場(chǎng)移動(dòng)檢測(cè)需求。

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  數(shù)據(jù)管理功能強(qiáng)，4 位浮點(diǎn)數(shù)顯示，支持 Ω/□、S/□、n/m（膜厚換算）三種單位一鍵切換，讀數(shù)直觀精準(zhǔn)。機(jī)身可存儲(chǔ)最大 50,000 組測(cè)量數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)顯示最新 100 組，通過(guò) USB-Mini 接口可快速導(dǎo)出數(shù)據(jù)至電腦，便于溯源存檔與分析，契合工業(yè)品質(zhì)管控規(guī)范。

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  設(shè)備適配各類(lèi)薄型導(dǎo)電材料，廣泛應(yīng)用于 ITO/TCO 導(dǎo)電膜、Low-E 節(jié)能玻璃、碳納米管、石墨烯、金屬納米線 / 網(wǎng)格薄膜等產(chǎn)品的檢測(cè)，不受樣品尺寸限制（大于探頭光斑即可），薄膜、玻璃、紙張等基材均可測(cè)量。核心元器件穩(wěn)定耐用，日常維護(hù)簡(jiǎn)單，長(zhǎng)期使用精度無(wú)漂移，是導(dǎo)電材料與薄膜電子行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)配置儀器。

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