相控探傷儀OmniScan X4技術(shù)參數(shù)
相控探傷儀OmniScan X4技術(shù)參數(shù)|上海如慶電子科技提供提供OmniScan X4維修、OmniScan X4租賃、OmniScan X4說明書、OmniScan X4操作手冊、OmniScan X4應(yīng)用及領(lǐng)域、OmniScan X4計量證書、OmniScan X4校準證書、OmniScan X4技術(shù)服務(wù)及提供第三方檢測等等


使用 OmniScan X4 128:128PR* 擴展您的應(yīng)用能力
自信地應(yīng)對更復(fù)雜的挑戰(zhàn),同時保持設(shè)備輕便且便于現(xiàn)場使用。
具備開發(fā)需要128陣元脈沖器的新PAUT應(yīng)用的靈活性。
完整的 128:128 通道能力,依然采用緊湊、便攜、耐用的設(shè)計。
現(xiàn)有 OmniScan X4 64:128PR 的升級路徑:無需更換。
改進的聚焦和波束轉(zhuǎn)向功能。
克服了線性探頭64個元件的限制。
,值得信賴
每臺OmniScan X4儀器堪稱一個無所不包的多技術(shù)檢測工具箱,可使您利用多種超聲檢測技術(shù)。利用其檢測和測量功能,可在損壞變得嚴重之前準確識別和評估損壞的嚴重程度,從而保護那些容易出現(xiàn)裂紋或腐蝕的焊縫、部件和資產(chǎn)。
使用PCI進行可靠評估
在探測和突出顯示以往難以檢測的缺陷時,如鉤狀裂紋和應(yīng)力腐蝕開裂(SCC),相位相干成像技術(shù)有助于消除疑慮。使用PCI可以清楚地區(qū)分細小裂紋群中的單個缺陷,并可靠地進行表征。
TFM采集率提高了3倍
由于OmniScan X4系列儀器處理能力的提升,獲得清晰TFM圖像的速度比上一代型號(X3 64)快了三倍*。利用 OmniScanX4 64:128PR 和 128:128PR 型號更快的速度和 128 元件容量,執(zhí)行具有擴展聚焦能力的 TFM 檢測。
獲得即時洞察,消除低效
TFM和PCI雙重技術(shù)讓您信心倍增
采用具有不同特性的PCI和TFM兩種技術(shù),同時從焊縫兩側(cè)徹查整個焊縫體積。使用兩個探頭對焊縫進行一次性掃查,即可顯示TFM和PCI結(jié)果,以便高效精確地比較、測量和確認缺陷特征。
以提高速度和簡化操作為設(shè)計宗旨
在OmniScan X4系列儀器上可以簡單直觀地進行相控陣、TOFD、TFM和PCI檢測。任何經(jīng)驗水平的檢測人員都可以利用這些技術(shù),通過簡單的逐步掃查計劃和應(yīng)用預(yù)設(shè),提高效率,增強信心。
以提高速度和簡化操作為設(shè)計宗旨
在OmniScan X4系列儀器上可以簡單直觀地進行相控陣、TOFD、TFM和PCI檢測。任何經(jīng)驗水平的檢測人員都可以利用這些技術(shù),通過簡單的逐步掃查計劃和應(yīng)用預(yù)設(shè),提高效率,增強信心。
便捷的應(yīng)用預(yù)設(shè)
OmniScan X4的應(yīng)用預(yù)設(shè),可以改善學習曲線,提高檢測在不同操作員之間的可靠性和一致性。即使是低級別用戶和新用戶也可以在幾分鐘內(nèi)完成優(yōu)質(zhì)的PA或PCI配置。
通過針對腐蝕和復(fù)合材料檢測的選項,這些預(yù)設(shè)參數(shù)可簡化使用 HydroFORM™, FlexoFORM™, 和 RollerFORM™ 掃描器的掃描設(shè)置,您還可以根據(jù)實際需求調(diào)整相關(guān)設(shè)置。
簡化了復(fù)雜配置
OmniScanX4掃查計劃的直觀分步3D圖形可簡化從基本到復(fù)雜的各種檢測設(shè)置。
在設(shè)置光柵掃查計劃時,可以自行命名掃查軸,還可以創(chuàng)建相對于資產(chǎn)的基準參考點。這些真實世界的參考以及真實方向的校正,大大地方便了為報告創(chuàng)建直觀的檢測數(shù)據(jù)示意圖的操作。
所有型號的規(guī)格均已列出,除非另有說明 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
一般規(guī)格及所含附件
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輸入與輸出
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通用超聲規(guī)格
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聲學技術(shù)規(guī)格
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PAUT Specifications
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FMC / TFM / PCI / PWI Specifications
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