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X射線熒光光譜儀定量與無標(biāo)樣分析方法
EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析，廣泛應(yīng)用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產(chǎn)，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰。
定量分析方法：
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強(qiáng)度，要找到熒光強(qiáng)度與樣品濃度的關(guān)系，需要一套高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強(qiáng)度按一定關(guān)系進(jìn)行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎(chǔ)測試同類型樣品元素的組成和含量。
無標(biāo)樣分析方法：
對于以固體進(jìn)樣為主的X射線熒光分析技術(shù)，要獲得一套高質(zhì)量的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。而X射線熒光光譜無標(biāo)樣分析技術(shù)是20世紀(jì)90年代推出的新技術(shù)，其目的是不用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標(biāo)準(zhǔn)樣品，儲(chǔ)存強(qiáng)度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無標(biāo)樣分析不是不需要標(biāo)樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計(jì)數(shù)強(qiáng)度差異進(jìn)行校正。其優(yōu)點(diǎn)是采用了制造商的標(biāo)樣、經(jīng)驗(yàn)與知識(shí)，包括測量條件，自動(dòng)譜線識(shí)辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。
商檢系統(tǒng)已經(jīng)將X射線熒光光譜無標(biāo)樣分析技術(shù)應(yīng)用到了進(jìn)出口的金屬材料和礦產(chǎn)品的檢驗(yàn)中。尤其在進(jìn)口鐵礦中涉及安全衛(wèi)生環(huán)保要求的有害元素監(jiān)控，進(jìn)口銅礦、銅精礦中有害元素限量判定等方面，獲得了很好的應(yīng)用。
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