以創(chuàng)新重新定義測(cè)試-IT2800高精密源測(cè)量單元全新上市
ITECH艾德克斯于近日正式推出旗下圖形化系列的高精密源測(cè)量單元---IT2800系列,簡(jiǎn)稱源表或SMU。此次共計(jì)發(fā)布三款型號(hào),分別是IT2801(1000V/1A/20W)、IT2805(200V/1.5A、20W)以及具備10A瞬態(tài)大電流脈沖輸出的IT2806(200V/3A DC;10A pulse/20W),完整覆蓋從低壓模擬芯片到高壓大功率SiC/GaN等器件的晶圓測(cè)試,以及新型納米材料、光電芯片和傳感器等對(duì)電流量測(cè)精度要求較高的場(chǎng)合。

IT2800系列秉承了ITECH一貫的“圍繞用戶需求出發(fā)”的設(shè)計(jì)理念,旨在為工程師實(shí)現(xiàn)高精密測(cè)試量測(cè)的同時(shí),能夠進(jìn)一步降低測(cè)試成本和提升測(cè)試效率。作為新一代的源測(cè)量單元設(shè)備,IT2800系列具備四大核心測(cè)試優(yōu)勢(shì):
1)集6種設(shè)備功能于一體,分別為電壓源、電流源、61/2數(shù)字萬(wàn)用表、脈沖發(fā)生器、電池模擬器、電子負(fù)載,降低超60%的測(cè)試設(shè)備成本。
2)大尺寸觸摸屏和豐富的圖形顯示設(shè)計(jì) (Graph view/Scope view/Record view),UI界面能夠直接獲取半導(dǎo)體器件的伏安特性曲線以及實(shí)時(shí)記錄產(chǎn)品的過(guò)程數(shù)據(jù)
3)分辨率最高可達(dá)100nV/10fA,真正的“源”“表”合一,無(wú)需改變測(cè)試接線,提升測(cè)試效率
4)直流DC和脈沖Pulse雙重輸出模式,對(duì)電流敏感型半導(dǎo)體器件的測(cè)試更加友好

IT2800系列高精密源測(cè)量單元的正式上市,也宣告著ITECH從上游的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)到中游的晶圓制造和封裝測(cè)試,具備了更加*且更具有競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試方案。IT2800系列打破傳統(tǒng)源表的設(shè)計(jì)風(fēng)格,重新定義測(cè)試,為工程師帶來(lái)更加流暢的測(cè)試體驗(yàn)。

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