自動(dòng)測(cè)量DENSOKU電測(cè)X射線熒光涂層厚度計(jì)

日本DENSOKU（電測(cè)）株式會(huì)社，一家專注于精密電測(cè)儀器的公司，核心產(chǎn)品包括渦電流式和電解式膜厚計(jì)，用于測(cè)量金屬涂層厚度。渦電流式膜厚計(jì)?：如 ?DS-110?，適合測(cè)量非磁性金屬上的非導(dǎo)電涂層或鋼材上的電鍍層。

電解式膜厚計(jì)?：如 ?CT-6?，精度高，可測(cè)量多層金屬鍍層。

其他型號(hào)?：如 ?GCT-311?，適用于線材測(cè)量；?DPF-1600?，用于數(shù)字相位計(jì)/繼電保護(hù)測(cè)試。

這些儀器廣泛應(yīng)用于汽車零部件、電池、軌道車輛、鋼鐵等行業(yè)，對(duì)測(cè)量精度要求高。

DENSOKU電測(cè)儀器的精度確實(shí)非常出色，核心型號(hào)的精度普遍能達(dá)到±1%或±0.1μm，具體取決于型號(hào)和應(yīng)用場(chǎng)景。

型號(hào)精度：

GCT-311 (電解式膜厚計(jì))?：

精度?：±1% 或 ±0.1μm（以較大者為準(zhǔn)）。

特點(diǎn)?：采用高精度恒流源，分辨率高達(dá)0.001μm，適合超薄鍍層和多層鍍層的精確測(cè)量。

CT-6 (電解式膜厚計(jì))?：

精度?：±0.1微米（在標(biāo)準(zhǔn)條件下）。

特點(diǎn)?：測(cè)量范圍0.1微米到50微米，適用于多種涂層材料和基材組合。

DS-110 (渦電流式膜厚計(jì))?：

精度?：高安定(±1%)高精度。

特點(diǎn)?：采用水晶振蕩方式，測(cè)量時(shí)間不超過1秒，適合非磁性金屬上的非導(dǎo)電涂層或鋼材上的電鍍層。

CT-3 (電解式膜厚計(jì))?：

精度?：±1%。

特點(diǎn)?：增加了高靈敏度范圍，提高了測(cè)量穩(wěn)定性，最小分解能可達(dá)0.001μm。

選擇建議

追求高精度?：GCT-311或CT-6，尤其適合實(shí)驗(yàn)室和質(zhì)量控制部門的仲裁分析。

需要快速測(cè)量?：DS-110的測(cè)量速度更快，適合生產(chǎn)線上的快速檢測(cè)。

預(yù)算有限?：CT-3在保證高精度的同時(shí)，成本相對(duì)更低。

注意事項(xiàng)

破壞性測(cè)量?：電解式儀器（如GCT-311、CT-6）會(huì)在樣品表面留下微小腐蝕點(diǎn)，樣品無法作為良品使用。

適用鍍層?：僅于陽極性鍍層（比基材更"惰性"的鍍層），無法測(cè)量陰極性鍍層（如銅上鍍鎳）。

樣品要求?：樣品表面需清潔，油污、氧化層等會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。

自動(dòng)測(cè)量DENSOKU電測(cè)X射線熒光涂層厚度計(jì)

X射線熒光厚度計(jì)

測(cè)量原子序數(shù)為22（Ti)或更高的金屬的薄膜厚度。

還可以同時(shí)測(cè)量每層雙層和三層鍍層的薄膜厚度，以及合金涂層的薄膜厚度和成分。

除了氣動(dòng)濾光器外，標(biāo)配兩種機(jī)械濾光器，因此可以高精度測(cè)量鋇上的

鎳膜和鋅上的銅膜。

熒光X射線涂層厚度計(jì)EX-851

X射線熒光涂層厚度計(jì)EX-851的特點(diǎn)

可選擇兩種測(cè)量模式

提供兩種模式可供選擇，使測(cè)量作能夠平穩(wěn)地滿足具體應(yīng)用需求。

|多測(cè)量與多校準(zhǔn)曲線

坐標(biāo)被注冊(cè)以自動(dòng)

測(cè)量激光點(diǎn)輻照位置的多個(gè)點(diǎn)。多個(gè)點(diǎn)可以用不同的校準(zhǔn)曲線進(jìn)行測(cè)量。

膠片厚度測(cè)量中的光譜顯示

膠片厚度測(cè)量中的光譜顯示多通道光譜分析快速處理，用于簡(jiǎn)單被測(cè)物體的光譜顯

示（處理速度2~3秒）

顯示測(cè)量單位監(jiān)控屏幕

將X射線照射部分導(dǎo)入Windows屏幕，并顯示X射線照射部分。

準(zhǔn)直器實(shí)現(xiàn)放大變化函數(shù)，改變尺寸。