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| 參考價: | ¥ 1248 |
| 訂貨量: | 1件 |
- PU-C 產(chǎn)品型號
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- 深圳市 所在地
訪問次數(shù):36更新時間:2026-06-08 11:23:28
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
|---|
PU-C是KOSAKA(小坂研究所)推出的一款表面粗糙度檢測器,為對應SURFCOM系列表面粗糙度測量機的驅(qū)動部檢出單元。
現(xiàn)貨!KOSAKA小坂 粗糙度檢測器 PU-C
現(xiàn)貨!KOSAKA小坂 粗糙度檢測器 PU-C
一、產(chǎn)品概述
PU-C是KOSAKA(小坂研究所)推出的一款表面粗糙度檢測器,為對應SURFCOM系列表面粗糙度測量機的驅(qū)動部檢出單元。該產(chǎn)品采用模塊化觸針傳感器設計,支持快速更換探針,可根據(jù)工件特征(如孔徑、曲率)靈活選擇不同規(guī)格探針。
產(chǎn)品適用于EC600、EC1550H、EC1650H、EC1850H、EC1850P及2150等機種,測定力可在100mN以內(nèi)進行可變調(diào)節(jié),測定范圍最高可達1800μm(使用b觸針臂時)。
二、核心特點
模塊化檢出結(jié)構(gòu)
PU-C采用可插拔式觸針傳感器設計,用戶可根據(jù)測量需求選配不同規(guī)格探針。針對小孔徑測量場景,可搭配極細檢出器實現(xiàn)6mm細孔深度檢測,傳統(tǒng)設備需定制專用夾具方可完成此類測量。
高精度測頭系統(tǒng)
傳感器采用直動式差動變壓器原理,有效消除傳統(tǒng)杠桿結(jié)構(gòu)可能引入的機械誤差。在Ra=3μm標準工況下,系統(tǒng)誤差控制在65~165nm范圍內(nèi),重復性≤±3%,可識別納米級表面起伏。
多標準兼容性
支持ISO、JIS、DIN、ASME和BS等國際標準及各國家新舊標準,可使用多種濾波器、截止值、測量長度和計算方法進行參數(shù)分析。可執(zhí)行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量,支持同時分析多個參數(shù)。







