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S neox白光干涉儀在微流控芯片制造檢測(cè)中的價(jià)值
發(fā)布時(shí)間:2026-03-12
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微流控芯片通過(guò)在微米尺度上操控流體,在生物化學(xué)分析、藥物篩選、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣闊前景。芯片上微通道、微腔室、微閥、微混合器等結(jié)構(gòu)的尺寸精度和表面質(zhì)量,直接影響流體的流動(dòng)特性、混合效率、分離效果和檢測(cè)靈敏度。Sensofar S neox白光干涉儀作為一種高分辨率的非接觸式三維形貌測(cè)量工具,在微流控芯片的模具制造、芯片復(fù)制與質(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié)提供了可行的測(cè)量方案。
S neox系統(tǒng)的白光干涉模式適用于測(cè)量大部分聚合物微流控芯片的表面。對(duì)于透明材料,可能需要調(diào)整測(cè)量模式或參數(shù)以抑制內(nèi)部反射的干擾。其高垂直分辨率能夠分辨納米級(jí)的深度變化,這對(duì)于測(cè)量淺通道或表面涂層厚度很有幫助。系統(tǒng)的自動(dòng)化功能允許對(duì)芯片上的多個(gè)重復(fù)單元或不同區(qū)域進(jìn)行編程測(cè)量,提高檢測(cè)效率。
此外,在芯片功能測(cè)試中,有時(shí)需要觀察液滴生成、混合或顆粒捕獲過(guò)程中的微結(jié)構(gòu)形變。結(jié)合高速成像,白光干涉儀在原理上可以用于動(dòng)態(tài)觀測(cè),盡管這在實(shí)踐中對(duì)系統(tǒng)有更高要求。因此,從模具加工到成品檢驗(yàn),Sensofar S neox白光干涉儀為微流控芯片的制造過(guò)程提供了一種重要的尺寸與形貌計(jì)量手段,有助于提升芯片的制造一致性與功能可靠性。