針對(duì)光通信行業(yè)中光波導(dǎo)器件的光纖端面粗糙度的檢測(cè)需求,SuperView系列光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理和納米掃描系統(tǒng),具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力,能夠輕松實(shí)現(xiàn)針對(duì)FA光纖端面粗糙度Sz參數(shù)的高精度、高重復(fù)性的一鍵式測(cè)量。
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針對(duì)光通信行業(yè)中光波導(dǎo)器件的光纖端面粗糙度的檢測(cè)需求,SuperView系列光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理和納米掃描系統(tǒng),具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力,能夠輕松實(shí)現(xiàn)針對(duì)FA光纖端面粗糙度Sz參數(shù)的高精度、高重復(fù)性的一鍵式測(cè)量。
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