韓國XRF-2020測厚儀標(biāo)準片校正塊
XRF-2000測厚儀標(biāo)準片
通用型適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標(biāo)準片又名膜厚儀校準片
專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準化校準及建立測試檔案。
也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準曲線法,是測量已知厚度或組成的標(biāo)準樣品
根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準曲線。以此標(biāo)準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀
韓國XRF-2020測厚儀標(biāo)準片校正塊
















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