在電子元器件領(lǐng)域，溫變環(huán)境易引發(fā)電容器參數(shù)漂移、性能衰減，因此溫度相關(guān)測試是判定產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)。華測儀器HCCT-40H電容器溫度特性評估系統(tǒng)，集成高準(zhǔn)度測量與多工況模擬能力，滿足標(biāo)準(zhǔn)檢測需求。

系統(tǒng)標(biāo)配8測試通道，可拓展至64通道，多通道并行架構(gòu)可滿足大批量試樣同步檢測，可縮短測試周期，優(yōu)化檢測效率。采用交流四端對測量技術(shù)，能規(guī)避引線阻抗、接觸電阻帶來的干擾，測試頻率20Hz~1MHz，對電容量、介質(zhì)損耗、等效阻抗等參數(shù)實(shí)現(xiàn)靈敏度檢測，準(zhǔn)確識別微小性能變化。

設(shè)備集成三類標(biāo)準(zhǔn)化測試模式，且支持自定義配置與模式聯(lián)用：

溫度特性測試：配合溫變環(huán)境，全程同步監(jiān)測參數(shù)隨溫度的變化趨勢，頻率測試點(diǎn)默認(rèn)201步，參數(shù)范圍、步進(jìn)數(shù)量支持定制；

恒定運(yùn)行測試：模擬實(shí)際服役環(huán)境進(jìn)行長期老化測試，量化評估產(chǎn)品耐久性能與工作穩(wěn)定性；

頻率特性測試：全頻段掃描分析，獲取器件完整頻響特性曲線。

一機(jī)實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)試驗(yàn)需求，集成數(shù)據(jù)采集、記錄、分析等功能，適配產(chǎn)品研發(fā)定型、出廠質(zhì)控、可靠性檢測等業(yè)務(wù)場景。設(shè)備兼容 MLCC、陶瓷電容、薄膜電容等多種主流電容器，契合電子、工控、汽車電子、通信等領(lǐng)域的測試規(guī)范與應(yīng)用要求。