| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 儀器種類 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,航空航天,電氣,綜合 |
產(chǎn)品分類品牌分類
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宏達牌反差增強劑 增強顯示劑磁粉探傷 新美達MT-BW黑水磁懸液 宏達牌干法黑磁粉、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達牌熒光磁粉(紅磁粉/黑磁粉) 新美達MT-BO黑油磁懸液 上海新美達/誠友集團反差增強劑 磁粉探傷用消泡劑 無錫捷成 磁場強度計 北京師范大學(xué) 屏幕亮度計 北師大紫外輻照計 宏達干法黑磁粉 宏達牌 熒光磁懸液 宏達牌反差增強劑 宏達牌濕法探傷磁粉膏 宏達牌著色滲透探傷劑 新美達 DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強劑 宏達黑油磁懸液 磁場指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
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顯定影液套藥加熱棒 工業(yè)膠片透射式黑白密度計含校準密度片 核輻射劑量片熱釋光片 冷光源工業(yè)觀片燈黑度5.0D 雙絲像質(zhì)計DR成像系統(tǒng)用雙線型IQI定制選擇 環(huán)境輻射檢測儀核輻射檢測手持式醫(yī)院工業(yè)射線巡檢儀 底片評片燈x光射線探傷 工業(yè)觀片燈/射線探傷評片/小巧臺式便攜/高亮度冷光源LED黑度5.0D 暗室紅燈定時器 射線探傷專用鉛字盒 愛克發(fā)AGFA G335定影液 沖洗套藥 手洗套藥 愛克發(fā)顯影液 定影液 沖洗套藥 手洗套藥 機洗套藥AGFA 管道射線探傷專用尺 定位尺 磁性貼邊框 數(shù)字定時器暗室紅燈定時器 不銹鋼洗片桶 射線評片尺 拉環(huán)磁鋼 膠片底片袋 可加工定制 暗室LED燈 (手持式)個人劑量報警儀 筆式輻射報警儀 環(huán)境輻射檢測儀 工業(yè)X射線照相底片袋 探傷膠片袋 定制定做 工業(yè)底片烘干箱 便攜工業(yè)底片烘干箱 325000Lux工業(yè)底片觀片燈 435000Lux工業(yè)底片觀片燈 高亮度工業(yè)觀片燈 腕式個人劑量計 黑白密度計定制生產(chǎn) 廠家直銷 個人輻射劑量報警儀價格 筆式輻射劑量報警儀 非磁性暗袋 射線探傷暗袋非磁人革暗袋 觀片燈 射線觀片燈 醫(yī)用輻射劑量報警儀 暗室紅燈計時器 一體式密度計觀片燈 高亮度射線底片觀片燈 暗室紅燈 手持式輻射報警儀 個人劑量報警儀 工業(yè)觀片燈 膠片燈 便攜式工業(yè)冷光源觀片燈 底片評片燈
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
CSK-IA 試塊使用說明及測試方法
水平線性(時基線性)的檢驗
水平線性又稱時基線性,或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏時基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當,并具有兩個相互平行的大平面的試塊,用縱波直探 頭獲得多次回波,并將規(guī)定次數(shù)的兩個回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊,之后,觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上,對準 25mm 厚的大平底面, 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕,使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5,且使 B1 對準 2.0,B5 對準10.0,如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。
(4)計算水平誤差:公式
式中,amax——a2,a3,a4 中大者 b——示波屏水平滿刻度值
調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍
由于縱波的聲程 91mm 相當于橫波聲程 50mm,因此可以利用試塊 上 91mm 來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1,先用直探頭 對準 91 底面,是 B1、B2 分別對準 50、100,然后換上橫波探頭并對準 R100 圓弧面,找到回波,并調(diào)至 100 即可。
測定儀器與直探頭遠場分辨力
(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”,探頭置于如圖所示位置,左右移動探頭, 使顯示屏上出現(xiàn) 85、91、100 三個反射回波A、B、C 如圖所示,則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。
(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定,直探頭遠場分辨力大于等于 20dB。
盲區(qū)的估計
盲區(qū)是指小的探測距離,測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置,測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm,或者介于兩者之間。
大穿透能力估計
將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置,將儀器個靈敏度旋鈕均置于大, 測試試塊中有機玻璃塊反射波次數(shù)和后一次反射波高度。以此來估計 大穿透力,借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

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