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GCSTD-D 介電常數(shù)測試儀產品介紹
一、符合標準
GCSTD-D 介電常數(shù)測試儀嚴格遵循以下國家及國際標準：
- GB/T 1409-2006：測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
- GB/T 1693-2007：硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法
- ASTM D150/IEC 60250：固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
二、試驗方法與電極配置
1、試驗方法
- 接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑的材料。
- 非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑的材料。
2、電極類型
- 固定電極：測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）。
- 液體電極：液體容量15ml。
- 粉體電極：根據(jù)樣品量可配置專用電極。
3、試樣類型
可測試固體、液體、粉體、膏體，無論是規(guī)則物還是不規(guī)則物。
三、核心性能特點
1、測試頻率范圍寬：20Hz ~ 2MHz，支持10mHz步進。
2、高精度測試電平：10mV ~ 5V，1mV步進。
3、基本準確度：高達0.1%。
4、快速測量：最高測量速度達200次/秒。
5、清晰顯示：320x240點陣大型圖形LCD顯示，五位讀數(shù)分辨率。
6、全面參數(shù)測量：可測量22種阻抗參數(shù)組合，支持四種信號源輸出阻抗（10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω）。
7、高效掃描功能：具備10點列表掃描測試功能和圖形掃描分析功能。
8、靈活偏置選項：內部自帶直流偏置源，并可外置偏流源至40A（選件）。
9、智能校準與比較：具備開路/短路點頻、掃頻清零及負載校準功能；內建比較器，支持10檔分選及計數(shù)。
10、數(shù)據(jù)存儲便捷：可儲存/讀取20組內部儀器設定。
11、連接與升級：配備多種通訊接口；支持2m/4m測試電纜擴展（選件）；提供中英文操作界面；可通過USB HOST自動升級儀器工作程序。
四、應用材料范圍
1、無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數(shù)評估與性能分析。
2、半導體元件：變容二極管的C-VDC特性分析；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析。
3、其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
4、介質材料：塑料、陶瓷等材料的介電常數(shù)和損耗角評估。
5、磁性材料：鐵氧體、非晶體等磁性材料的導磁率和損耗角評估。
6、半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性分析。
7、液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性分析。
