聚合物相結(jié)構(gòu)分析儀器 OTSUKA 大冢電子 PP-1000
聚合物相結(jié)構(gòu)分析儀器 OTSUKA 大冢電子 PP-1000
1. 產(chǎn)品研發(fā)定位
PP-1000 基于大冢電子自研光學(xué)散射檢測技術(shù),采用小角激光光散射(SALS)原理,區(qū)別于 X 射線、中子散射,專注微米級高分子相結(jié)構(gòu)原位動(dòng)態(tài)定量分析,彌補(bǔ)偏光顯微鏡僅能定性觀測的短板,將散射圖譜數(shù)字化計(jì)算球晶直徑、相分離關(guān)聯(lián)長度、結(jié)晶速率;廣泛用于結(jié)晶高分子、聚合物共混、熱固樹脂、高分子凝膠、功能性薄膜研發(fā),完整記錄升溫、降溫、拉伸、UV 固化全過程微觀結(jié)構(gòu)演變。
2. 核心檢測原理
搭載 785nm 半導(dǎo)體激光光源與 CMOS 高速成像檢測器,激光穿透樣品產(chǎn)生特征散射圖案,通過偏振系統(tǒng)區(qū)分兩種檢測模式:
Hv 正交偏振散射:獲取四葉草型特征散射圖,擬合計(jì)算結(jié)晶材料球晶直徑、光學(xué)各向異性、結(jié)晶生長速率,適用 PP、PVDF、PET 等結(jié)晶薄膜;
Vv 平行偏振散射:采集圓形散射圖譜,通過 Debye-Bueche 公式自動(dòng)擬合,得到聚合物共混體系相分離關(guān)聯(lián)長度,表征海島相分散均勻度;
設(shè)備最短 10ms 完成 0.33°~45° 全角度散射圖像采集,連續(xù)捕捉毫秒級瞬態(tài)結(jié)構(gòu)變化,實(shí)現(xiàn)全過程動(dòng)態(tài)量化記錄。
3. 硬件功能詳情
超高速全域散射采集
單次完整散射角掃描最快僅 10ms,無滯后捕捉熔融、淬火、快速相分離等瞬時(shí)結(jié)構(gòu)變化,支持長時(shí)間連續(xù)動(dòng)態(tài)錄像與數(shù)據(jù)存儲,完整還原材料結(jié)構(gòu)演變?nèi)^程。
雙散射模式軟件一鍵切換
無需手動(dòng)拆裝偏振片,操作界面一鍵切換 Hv/Vv 檢測模式,一套設(shè)備同時(shí)完成結(jié)晶球晶表征、共混相分離分析,減少樣品重復(fù)上機(jī)操作。
多形態(tài)樣品兼容設(shè)計(jì)
標(biāo)配薄膜樣品臺,搭配專用密封液體樣品池,可測試高分子溶液、凝膠、乳液;光斑直徑約 1mm,微量薄膜、薄層溶液均可穩(wěn)定測量。

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