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hiXAS實(shí)驗(yàn)室級解決方案

• 基于實(shí)驗(yàn)室的一站式EXAFS 和 XANES 系統(tǒng)

• 可實(shí)現(xiàn)同步輻射級別的譜圖

• 較高的信噪比

• 最寬可達(dá) 1 keV 的帶寬

德國 hp spectroscopy hiXAS 提供完整的實(shí)驗(yàn)室級解決方案，用于擴(kuò)展 X 射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（EXAFS）和 X 射線吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES）測量。系統(tǒng)采用緊湊設(shè)計(jì)，將X射線管光源、高分辨率光譜儀和混合探測器集成在一起，并配備軟件套件用于儀器控制和數(shù)據(jù)分析。
其譜圖質(zhì)量可媲美同步輻射測量，因此無需再進(jìn)行繁瑣的機(jī)時(shí)申請與等待。
X 射線管光源與光譜儀覆蓋 4–30 keV 能量范圍，包括 3d 過渡金屬的 K 吸收邊。采用優(yōu)化的 HAPG von Hamos 光譜儀結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)較高的信噪比。因此，即使分析物濃度低至幾個(gè)重量百分比也可進(jìn)行測量。該系統(tǒng)兼具高效率與高光譜分辨率，在整個(gè)吸收邊范圍內(nèi)分辨率可達(dá) E/ΔE = 4000 且保持穩(wěn)定。
hiXAS 還提供定制版本。對于更低能區(qū)的應(yīng)用，請參考 proXAS。歡迎聯(lián)系我們以討論您的具體應(yīng)用需求。

hiXAS 可用于 EXAFS 和 XANES 測量的元素范圍。即使是分析物濃度僅為幾個(gè)wt%的稀釋樣品，也可以在幾分鐘內(nèi)完成測量。

hiXAS實(shí)驗(yàn)室級解決方案
桌面型 XAS 系統(tǒng)
· X 射線吸收邊附近的結(jié)構(gòu)分析
· 較高靈敏度.可分析物濃度低至 1 wt%
· 樣品全自動(dòng)批量處理，無需手動(dòng)更換晶體（分析晶體）

媲美同步輻射的譜圖質(zhì)量
· 可精確重現(xiàn)同步輻射測量的光譜特征
· 高分辨本領(lǐng)達(dá) 4000
· 帶寬最高可達(dá) 600 eV
· 空間分辨檢測能力，可用于評估樣品均勻性

原位測量
· 快速多色（多能）采集技術(shù)支持原位操作條件下測量，即使在長時(shí)間實(shí)驗(yàn)也同樣適用。
· 為復(fù)雜樣品環(huán)境（如氣體供應(yīng)、加熱、低溫冷卻等）提供充足的樣品空間。
· 提供兩個(gè)接口，支持樣品裝置的長期使用。

來自 hixAS 的 10  μm  厚銅箔 xANES 譜（分辨本領(lǐng)E/ΔE = 4000 ，藍(lán)色曲線）與同步輻射測量結(jié)果（APS 光束線 13-ID-E ，分辨本領(lǐng) E/ΔE = 8000，橙色曲線）的對比。

兩者高度一致，充分證明了 hixAS  的高質(zhì)量測量性能。測量時(shí)間為 8 分鐘。

文獻(xiàn)來源：J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

用于合成氣轉(zhuǎn)化的納米顆粒催化劑的氧化態(tài)分析。通過引入 M"  和 Fe  作為助劑，以調(diào)控反應(yīng)的選擇性。

盡管 M"  含量僅為 1.4 wt% ，但 hixAS  測量結(jié)合參考譜圖對比，仍能夠清晰判定其氧化態(tài)。

文獻(xiàn)來源：Faraday Discuss. 208, 207 (2018)

EXAFS analysis
桌面型 XAS 系統(tǒng)
· 在吸收邊擴(kuò)展范圍內(nèi)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析
· 提供原子間距及近鄰配位數(shù)等信息
· 較大帶寬，高通量
媲美同步輻射的譜圖質(zhì)量
·  高效率 HAPG 晶體提供實(shí)現(xiàn)EXAFS 所需的高光子通量（>107 ph/s）
·  極限寬帶達(dá) 1000 eV
·  高分辨本領(lǐng)達(dá) 1800，且在整個(gè)能量范圍內(nèi)保持穩(wěn)定
原位測量
· 即使是在持續(xù)數(shù)天的原位測量，仍然可以在大能量范圍的非掃描式采集后提供穩(wěn)定的測量結(jié)果
· 非等間距譜數(shù)據(jù)處理可在大波矢范圍內(nèi)提升信噪比。

hiXAS 對 10  μm  銅箔的 XAFS  測量示例，對比實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)（紅線）與同步輻射（黑線）結(jié)果。左圖為 EXAFS  振蕩，右圖為對應(yīng)的傅里葉變換結(jié)果。

所有峰位均被精確重現(xiàn)。測量時(shí)間為 3 分鐘。

文獻(xiàn)來源：J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

hiXAS 可用于 EXAFS 和 XANES 測量的主要元素范圍。對于更高能量的吸收邊，可通過定制化系統(tǒng)版本進(jìn)行擴(kuò)展測量。

技術(shù)參數(shù)