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內(nèi)容聲明：
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產(chǎn)品簡介
電子元件檢查顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
電子元件檢查顯微鏡詳細信息
電子元件檢查顯微鏡放大倍數(shù)：光學800倍放大，電子8000倍放大
像素：200萬像素無壓縮
輸出分辨率：1920*1080P
輸出方式：HDMI高清接屏
功能：2K高清圖像拍照/測量/錄制/回顯/保存、導出數(shù)據(jù)、模板預設、CAD模板導入...
使用領域：半導體芯片行業(yè)、金屬表面分析、芯片整板觀察
XJP-302/302BD正置金相顯微鏡適用于對不透明物體的顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能，緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的儀器。
電子元件檢查顯微鏡技術規(guī)格：
目鏡 | 大視野 WF10X(視場數(shù)Φ22mm) | ||
無限遠平場消色差物鏡 | XJP-302 （配明場物鏡） | PL L5X/0.12 工作距離：26.1 mm | |
PL L10X/0.25 工作距離：20.2 mm | |||
PL L20X/0.40 工作距離：8.80 mm | |||
PL L50X/0.70 工作距離：3.68 mm | |||
PL L80X/0.80 工作距離：1.25 mm | |||
XJP-302BD （配明/暗場物鏡） | PL L5X/0.12 BD 工作距離：8.05mm | ||
PL L10X/0.25 BD 工作距離：7.86mm | |||
PL L20X/0.40 BD 工作距離：7.23mm | |||
PL L50X/0.70 BD 工作距離：1.75mm | |||
PL L80X/0.80 BD 工作距離：0.80mm | |||
目鏡筒 | 三目鏡30?傾斜, 可100%通光攝影 | ||
落射照明系統(tǒng) | XJP-302 | 12V30W鹵素燈，亮度可調(diào) | |
XJP-302BD | 12V50W鹵素燈，亮度可調(diào) | ||
內(nèi)置視場光欄、孔徑光欄、(黃、藍、綠、磨砂玻璃)濾色片轉(zhuǎn)換裝置，推拉式檢偏器與起偏器 | |||
調(diào)焦機構 | 粗微動同軸調(diào)焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:0.7μm | ||
轉(zhuǎn)換器 | 五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位) | ||
載物臺 | 機械式載物臺，外形尺寸：280mmX270mm，移動范圍：橫向（X）204mm，縱向（Y）204mm | ||
選配件：
名稱 | 類別/技術參數(shù) | 備注 | |
目鏡 | 分劃 10X(Φ22mm),格值0.1mm/格 | ||
物鏡 | PL L40X/0.60 工作距離:3.98 | 明視場 | |
PL L60X/0.70 工作距離2.08mm | |||
PL L100X（干式）/0.85 工作距離0.4mm | |||
PL L40X/0.60 BD 工作距離3.0mm | 明、暗視場 | ||
PL L60X/0.70 BD 工作距離1.65mm | |||
PL L100X/0.85 BD 工作距離0.4mm | |||
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