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PhotonicLatticeInc于2002年在日本仙臺成立，通過自有光子晶體技術開發(fā)了偏振相機，應力雙折射測量系統(tǒng)等。
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透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評估儀器產(chǎn)品參數(shù)
| 應用領域 | 綜合 |
透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評估儀器詳細信息
透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評估儀器 透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評估儀器
1. 產(chǎn)品定位與核心價值
PA/WPA 系列是 Photonic Lattice 推出的專業(yè)光學測量設備，專為透明部件與薄膜的相位差、畸變檢測打造。產(chǎn)品覆蓋從微觀顯微鏡尺寸到約 50cm 的大尺寸樣品，可根據(jù)測量對象提供完整產(chǎn)品矩陣，是玻璃、鏡頭、透明樹脂等光學元件研發(fā)與生產(chǎn)質控的核心工具。
2. 核心技術優(yōu)勢
全尺寸適配：產(chǎn)品矩陣覆蓋從顯微鏡級微觀樣品到約 50cm 大尺寸工件，滿足不同場景的測量需求。
PA 系列（低相位差場景）：面向 0~130nm 低相位差測量，搭載 500 萬像素高分辨率成像，可高速、高精度測量復折射率 / 位相差分布，適配玻璃制品、鏡頭等位相差較小的測量對象。
WPA 系列（高相位差場景）：采用三波長測量技術，將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm，專門針對位相差較大的透明樹脂制品，解決高相位差樣品的精準測量難題。
非接觸式無損檢測：無需破壞樣品，即可完成相位差、畸變、復折射率分布的全方面評估，保障樣品完整性。
高分辨率成像：500 萬像素成像系統(tǒng)，精準捕捉微觀相位差不均勻性，定位微小缺陷與應力分布。
3. 核心參數(shù)對比表
表格
| 參數(shù)項 | PA 系列 | WPA 系列 |
|---|---|---|
| 相位差測量范圍 | 0～130nm | 0～3500nm |
| 核心技術 | 單波長高分辨率測量 | 三波長位相差測量技術 |
| 分辨率 | 500 萬像素 | 500 萬像素 |
| 適用場景 | 玻璃制品、鏡頭等低相位差透明部件 | 透明樹脂制品等高相位差透明部件 |
| 測量能力 | 復折射率 / 位相差分布、畸變、相位差不均勻性 | 復折射率 / 位相差分布、畸變、相位差不均勻性 |
| 樣品尺寸覆蓋 | 顯微鏡尺寸～約 50cm 大尺寸 | 顯微鏡尺寸～約 50cm 大尺寸 |
4. 適用場景
光學元件制造：玻璃鏡片、鏡頭、光學薄膜的相位差、畸變、應力分布檢測，保障光學性能。
透明樹脂行業(yè)：透明樹脂制品的高相位差測量，質控產(chǎn)品成型質量與內(nèi)部應力。
材料研發(fā)：透明材料、薄膜的復折射率、相位差分布研究，助力新材料研發(fā)。
工業(yè)質控：透明部件的在線 / 離線全檢，識別相位差不均勻性與畸變?nèi)毕荨?/p>
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