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移動端訪問更便捷歐姆龍集團(tuán)從1933年5月10日創(chuàng)業(yè)至今,通過不斷創(chuàng)造新的社會需求,已經(jīng)發(fā)展成為*的自動化控制及電子設(shè)備制造廠商,掌握著*的傳感與控制核心技術(shù)。
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OMRON/歐姆龍
經(jīng)銷商
ZW-5000
202
湖南長沙市
2026/6/18 16:48:09
產(chǎn)品簡介
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
日本OMRON歐姆龍同軸位移傳感器控制器
歐姆龍 ZW-5000 是白光共焦光纖同軸位移傳感器控制器,搭配專用 ZW-S50 系列測頭,依靠同軸白光共焦光學(xué)原理,可穩(wěn)定檢測鏡面、透明、粗糙各類材質(zhì),最大傾斜耐受 ±25°、微米級高精度,測頭超小型輕量化、光纖耐彎折適配機(jī)械臂移動測量;采樣周期 80~1600μs,支持厚度 / 位移同步檢測,廣泛用于 3C、半導(dǎo)體、光學(xué)薄膜產(chǎn)線在線精密尺寸質(zhì)檢。
日本OMRON歐姆龍同軸位移傳感器控制器
同軸光路無反射盲區(qū)
發(fā)射與接收光線wan全同軸,鏡面金屬、拋光玻璃、高反光塑膠不會產(chǎn)生偏移誤測;普通斜射激光傳感器傾斜 5° 就會失準(zhǔn),本機(jī)可耐受工件 **±25° 大傾角 ** 仍穩(wěn)定讀數(shù)。
透明件雙層厚度同步檢測
白光分光識別上下界面,單次掃描同時輸出表面位移 + 透明材質(zhì)厚度,可測薄膜、蓋板玻璃、光學(xué)膠層,最小可分辨微米級薄層,解決激光無法穿透透明件的痛點(diǎn)。
全材質(zhì)兼容檢測
鏡面金屬、啞光粗糙塑膠、硅晶圓、光學(xué)薄膜、陶瓷、PCB 油墨層均可穩(wěn)定測量,不受表面反光率差異干擾。
測量周期:80μs~1600μs 多檔可調(diào),適配高速流水線節(jié)拍;
線性誤差≤±0.8μm,靜止分辨率最高 0.005μm,微米級尺寸管控;
內(nèi)置多點(diǎn)校準(zhǔn) ROM,測頭自帶出廠校準(zhǔn)參數(shù),更換測頭無需重新標(biāo)定。
NPN/PNP 雙極性開關(guān)量輸出,支持 HIGH/PASS/LOW 三段閾值判定;
模擬量 4~20mA / 0~10V 同步輸出,直連 PLC 采集;
可選 RS485 通訊,多臺組網(wǎng)、上位機(jī)數(shù)據(jù)追溯,支持批量厚度數(shù)據(jù)存儲。
超小型輕量化筆式 / 方型測頭
筆式探頭外徑僅 12mm,單支重量 27g,可嵌入機(jī)械臂末端、狹小治具縫隙;分直頭 / 彎頭兩種結(jié)構(gòu),應(yīng)對側(cè)孔、凹槽內(nèi)側(cè)檢測。
免前置放大光纖線纜(移動測量專屬)
光纖內(nèi)部無放大電路,可放入拖鏈往復(fù)運(yùn)動;通過 300 萬次 20mm 半徑彎折耐久測試,機(jī)械臂、往復(fù)輸送設(shè)備長期走線不易斷線;最長可搭配 30m 延長光纖,大型設(shè)備布線無壓力。
多規(guī)格測頭覆蓋不同量程
同控制器可匹配多款 ZW-S50 測頭:±0.3mm~±2mm 多段測量行程,光斑 φ9~100μm 可選,微小引腳用超細(xì)光斑、大面積工件用寬光斑。
經(jīng)濟(jì)型定位:ZW-5000 主打中高精度量產(chǎn)質(zhì)檢,成本低于 7000/8000 系列,滿足絕大多數(shù) 3C、薄膜常規(guī)微米檢測需求;
采樣速度上限 80μs,ZW-7000 z低 20μs、ZW-8000 精度更高、速度更快,適合超高節(jié)拍半導(dǎo)體設(shè)備;
溫度漂移控制:ZW-5000 溫漂約 1.1~1.8μm/℃,適合恒溫車間,恒溫環(huán)境下測量穩(wěn)定性優(yōu)異。
3C 電子:手機(jī)蓋板玻璃厚度、屏幕膠層厚度、金屬中框平面度、攝像頭模組臺階高度;
光學(xué)薄膜行業(yè):PET / 光學(xué)膠薄層厚度、透明保護(hù)膜雙面尺寸檢測;
半導(dǎo)體:晶圓載具平整度、芯片封裝膠體高度、微小引腳高度差;
精密零部件:陶瓷、拋光金屬零件平面度、凹槽深度、鏡面工件位移定位。
光纖線纜最小彎曲半徑≥20mm,禁止硬折、擠壓光纖;
透明工件折射率會輕微影響厚度讀數(shù),量產(chǎn)前需用標(biāo)準(zhǔn)樣片校準(zhǔn)補(bǔ)償;
測頭透鏡定期清潔粉塵油污,避免光斑散射降低精度;
多支測頭并排使用時,間距保持 50mm 以上,防止光路互相干擾。
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