掃描 開(kāi)爾文探針不僅可以測(cè)量樣品單個(gè)點(diǎn)的接觸電位差 (CPD),還可以掃描整個(gè)樣品表面。
配備光源的 Kelvin 探針可以檢查樣品中電子的表面狀態(tài)。電子的表面狀態(tài)在電荷轉(zhuǎn)移中起著重要作用,這對(duì)掃描 開(kāi)爾文探針于光伏材料和光電化學(xué)尤為
重要。
掃描樣品表面并檢查其電學(xué)特性的可能性可以精確評(píng)估材料的質(zhì)量、均勻性等。為樣本的許多點(diǎn)收集的一系列 CPD 值可用于更精確地評(píng)
估功函數(shù)。
靜電電壓表
測(cè)量技術(shù)、應(yīng)用的分析方法和儀器的設(shè)計(jì)使該儀器在測(cè)試帶電介電表面方面無(wú)與的倫比,包括電介質(zhì),其中測(cè)量的電位高于累積
電荷可能高達(dá)幾千伏!
掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng)能夠調(diào)查:
材料的功函數(shù)
費(fèi)米能級(jí)相對(duì)于導(dǎo)帶和價(jià)帶邊緣的位置,
半導(dǎo)體的類型 n 或 p
半導(dǎo)體的能隙 /
表面電位(平帶技術(shù)的 SPV),
表面吸附和化學(xué)吸附對(duì)功函數(shù)的影響,
表面狀態(tài)密度信息 /
表面充放電效應(yīng) /
少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度 /
載流子復(fù)合速率(特別是間接帶隙半導(dǎo)體),
埋點(diǎn)接口信息,
溫度對(duì)功函數(shù)的影響,
濕度對(duì)功函數(shù)的影響,
表面上的靜電荷分布。
Kelvin 探針模塊
Kelvin 探針組包括:
控制器單元,
帶探針的 Kelvin Probe 儀器,
法拉第籠。
Kelvin Probe 儀器配備:
探頭
Kelvin Probe 儀器最重要的部分是探針。參比電極由直徑為 2.5 mm 的 Au 網(wǎng)制成。它提供高信噪比,即使距離樣品上方 0.5 mm
也是如此。因此,被檢查的樣品表面是粗糙的還是拋光的并不重要。振蕩由電磁鐵產(chǎn)生。
探針是由 Instytut Fotonowy Sp. z o.o. 設(shè)計(jì)和制造的組件。
樣品架
標(biāo)準(zhǔn) Kelvin 探針組包括兩種類型的樣品臺(tái):
用于導(dǎo)電基板上樣品的底部接觸架,
用于非導(dǎo)電基板的頂部接觸支架,
法拉第箱體
整個(gè)儀器被法拉第籠覆蓋,保護(hù)裝置免受環(huán)境光和電磁場(chǎng)的影響。
氣密法拉第箱體,帶惰性氣體流動(dòng)系統(tǒng)
CPD 的科學(xué)測(cè)量通常對(duì)溫度、濕度、灰塵和化學(xué)污染物等環(huán)境因素敏感,開(kāi)爾文探針可以放置在帶有惰性氣體流動(dòng)系統(tǒng)的法拉第籠的
密封版本內(nèi)。
激光光柵
Kelvin 探針配備了激光屏障系統(tǒng)。系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè)樣品底
液。每次探針接近被測(cè)樣品時(shí),都會(huì)以 20 μm 的精度測(cè)量樣品表面和探針之間的準(zhǔn)確距離。
樣品照明
在測(cè)量過(guò)程中,樣品可能會(huì)從位于探頭上方的光纖被照亮。探針讓光線通過(guò)。光纖輸入端的光可由 LED 旋轉(zhuǎn)器、氙燈與光柵或
任何其他類型所需的光源相結(jié)合提供。

常規(guī):
樣品架:
法拉第籠:
標(biāo)準(zhǔn)/氣密,帶惰性氣體流動(dòng)系統(tǒng),
測(cè)量單位:
探頭:
XY 工作臺(tái):
電動(dòng),通過(guò)軟件控制,
尺寸:50 x 50 mm,
移動(dòng)范圍:50 x 50 mm,
示范性成果
鋁表面
樣品表面的電勢(shì)分布:

測(cè)量期間的環(huán)境溫度:

測(cè)量過(guò)程中的空氣濕度:

帶有周期性孔的金屬表面樣品

樣品表面的電勢(shì)分布:

持續(xù)測(cè)量期間的環(huán)境溫度:

持續(xù)測(cè)量期間的空氣濕度:

電介質(zhì)表面的電荷分布:
鋁箔上的 PTFE – 來(lái)自樣品表面電荷的電勢(shì)

用戶評(píng)論
發(fā)布評(píng)論