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是德科技（中國）有限公司于1999-09-02在登記成立。法定代表人嚴(yán)中毅，公司經(jīng)營范圍包括高技術(shù)應(yīng)用軟件產(chǎn)品及其附件、測(cè)試測(cè)量儀器等。是德科技(KeysightTechnologies)也為電子設(shè)計(jì)、測(cè)試、測(cè)量和優(yōu)化提供解決方案。
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是德KEYSIGHT采樣示波器產(chǎn)品參數(shù)
| 采樣率 | 可達(dá) 250kHzGS/s | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
| 帶寬 | 大于 40GHz（選件 40A）MHz | 類型 | 數(shù)字示波器 |
| 通道數(shù) | 4 個(gè)光通道 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 波長范圍 | 830nm - 1600nm | 噪聲 | 光通道噪聲 <5μW |
是德KEYSIGHT采樣示波器詳細(xì)信息
1. 產(chǎn)品簡介
是德KEYSIGHT采樣示波器 N1092D 作為一款專業(yè)級(jí)單光通道采樣示波器，專為高速光信號(hào)測(cè)試場(chǎng)景設(shè)計(jì)，憑借超高的性能參數(shù)與穩(wěn)定的運(yùn)行表現(xiàn)，成為通信設(shè)備研發(fā)、電子元器件測(cè)試、光模塊生產(chǎn)等領(lǐng)域的核心測(cè)試儀器。產(chǎn)品以 4 個(gè)光通道為基礎(chǔ)配置，搭配選件 40A 后帶寬可突破 40GHz，能精準(zhǔn)捕捉 830-1600nm 波長范圍內(nèi)的光信號(hào)，同時(shí)在數(shù)據(jù)速率支持、噪聲控制、抖動(dòng)表現(xiàn)等關(guān)鍵指標(biāo)上均達(dá)到行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn)，為用戶提供全面、可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)支撐，助力提升研發(fā)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。
2. 產(chǎn)品特點(diǎn)
高帶寬與多通道配置：配備 4 個(gè)獨(dú)立光通道，選件 40A 加持下帶寬大于 40GHz，可同時(shí)處理多路高速光信號(hào)，滿足多通道并行測(cè)試需求，適配復(fù)雜測(cè)試場(chǎng)景，減少測(cè)試時(shí)間成本。
寬波長與高數(shù)據(jù)速率支持：波長覆蓋 830-1600nm，兼容主流光通信波長范圍；支持 20.6Gbd 至 28Gbd（NRZ、PAM4）數(shù)據(jù)速率，且可應(yīng)對(duì) 53Gbd（PAM4 TDECQ）高速信號(hào)測(cè)試，適配當(dāng)前及未來高速光通信技術(shù)發(fā)展需求。
低噪聲與低抖動(dòng)：光通道噪聲＜5μW，有效降低信號(hào)干擾，保障微弱光信號(hào)的精準(zhǔn)采集；抖動(dòng)＜200fs，減少信號(hào)時(shí)序偏差，確保高速信號(hào)測(cè)試的時(shí)序準(zhǔn)確性，提升測(cè)試數(shù)據(jù)可信度。
高分辨率與寬時(shí)鐘范圍：采用 16 位 ADC 分辨率，可精準(zhǔn)量化信號(hào)細(xì)節(jié)，捕捉微小信號(hào)變化；時(shí)鐘輸入范圍覆蓋 500MHz 至 28.5GHz，適配不同頻率的時(shí)鐘信號(hào)，增強(qiáng)儀器的兼容性與靈活性。
專業(yè)接口設(shè)計(jì)：光輸入采用單模 FC/PC 連接器，具備良好的連接穩(wěn)定性與信號(hào)傳輸性能，減少接口接觸損耗，保障測(cè)試過程中信號(hào)的穩(wěn)定傳輸，降低因接口問題導(dǎo)致的測(cè)試誤差。
3. 產(chǎn)品型號(hào)
是德KEYSIGHT采樣示波器 N1092D ，核心配置包含 4 個(gè)光通道，默認(rèn)支持 830-1600nm 波長范圍、250kHz 采樣率、16 位 ADC 分辨率及單模 FC/PC 光輸入接口。同時(shí)，產(chǎn)品可選配選件 40A，選配后帶寬可提升至大于 40GHz，進(jìn)一步拓展高速信號(hào)測(cè)試能力，用戶可根據(jù)實(shí)際測(cè)試需求選擇是否搭配該選件，滿足不同場(chǎng)景下的性能要求。
4. 應(yīng)用場(chǎng)景
通信設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域：適用于 5G 及未來更高帶寬通信設(shè)備的研發(fā)測(cè)試，如光傳輸模塊、基站光接口等，可精準(zhǔn)測(cè)試高速光信號(hào)的傳輸性能，幫助研發(fā)人員發(fā)現(xiàn)信號(hào)傳輸中的問題，優(yōu)化設(shè)備設(shè)計(jì)，提升設(shè)備通信質(zhì)量與穩(wěn)定性。
電子元器件測(cè)試領(lǐng)域：針對(duì)高速光電子元器件，如光芯片、光探測(cè)器等，可測(cè)試其在不同波長、不同數(shù)據(jù)速率下的性能參數(shù)，驗(yàn)證元器件是否符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，為元器件的質(zhì)量把控與性能優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持，保障元器件在后續(xù)設(shè)備應(yīng)用中的可靠性。
光模塊生產(chǎn)測(cè)試領(lǐng)域：在光模塊的批量生產(chǎn)過程中，可作為測(cè)試儀器對(duì)光模塊的輸出光信號(hào)進(jìn)行快速、精準(zhǔn)測(cè)試，檢測(cè)光模塊的帶寬、數(shù)據(jù)速率、噪聲、抖動(dòng)等關(guān)鍵指標(biāo)，篩選出合格產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效率與產(chǎn)品合格率，降低生產(chǎn)過程中的質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
科研實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域：在高校、科研機(jī)構(gòu)的高速光通信技術(shù)、光電子技術(shù)等相關(guān)科研實(shí)驗(yàn)中，可作為核心測(cè)試工具，為科研人員提供穩(wěn)定、精準(zhǔn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，助力科研項(xiàng)目的開展與突破，推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新與發(fā)展。
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