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阻抗分析儀可進(jìn)行掃頻或電平掃描測(cè)量產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
阻抗分析儀可進(jìn)行掃頻或電平掃描測(cè)量詳細(xì)信息
IM3570日置阻抗分析儀
本公司7月25日9點(diǎn)34分報(bào)道：在分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量或時(shí)間間隔測(cè)量#2025動(dòng)態(tài)已更新《采購(gòu)/推薦》
產(chǎn)品描述
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
→LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
→基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
→適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
→分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
→可以用于無線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
測(cè)量模式 | LCR（LCR測(cè)量），分析儀（掃描測(cè)量），連續(xù)測(cè)量 |
測(cè)量參數(shù) | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
測(cè)量量程 | 100mΩ~100MΩ;，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定） |
顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示 D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99） △%：±（0.0000%~999.9999%） |
基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
測(cè)量頻率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)） |
測(cè)量信號(hào)電平 | V模式，CV模式（普通模式） |
輸出阻抗 | 普通模式：100Ω; 低阻抗高精度模式：10Ω |
顯示 | 彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF |
測(cè)量時(shí)間 | 0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值） |
測(cè)量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
其他功能 | DC偏壓測(cè)量，比較功能，面板讀取和保存，存儲(chǔ)功能 |
相關(guān)關(guān)鍵詞：示波器，力科示波器，泰克示波器，安捷倫示波器，是德示波器，數(shù)字示波器，示波器，網(wǎng)絡(luò)分析儀，信號(hào)分析儀，信號(hào)發(fā)生器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻譜分析儀，晶體管圖示儀，直流電源，可編程直流電源，半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，協(xié)議分析儀，藍(lán)牙協(xié)議分析儀，以太網(wǎng)測(cè)試系統(tǒng)，邏輯分析儀，阻抗分析儀，電磁場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試儀，電磁波場(chǎng)強(qiáng)分析儀，是德頻譜分析儀，安捷倫信號(hào)分析儀，函數(shù)發(fā)生器，任意波形發(fā)生器，矢量信號(hào)發(fā)生器，安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀，半導(dǎo)體測(cè)試儀，半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，功率器件分析儀，動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，星群模擬器系統(tǒng)，GNSS模擬器，無線通信測(cè)試儀，綜合測(cè)試儀，無線測(cè)試儀，網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，USB協(xié)議分析儀，力科分析儀，SATA協(xié)議分析儀，以太網(wǎng)協(xié)議分析儀，精密阻抗分析儀，精密型LCR表，日置阻抗分析儀，穩(wěn)科阻抗分析儀，程控直流電源，直流電源分析儀，雙通道直流電源，數(shù)字萬用表，力科邏輯分析儀，WIFI6測(cè)試系統(tǒng)，示波器探頭，電機(jī)驅(qū)動(dòng)分析儀，串行數(shù)據(jù)分析儀，磁盤驅(qū)動(dòng)分析儀，安規(guī)測(cè)試儀，耐壓測(cè)試儀，耐壓測(cè)試分析儀
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