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在過去27年中，Ionoptika已證明自己是高性能離子束技術(shù)的供應(yīng)商。從開發(fā)第一個碳富勒烯（C60）離子源（被廣泛認為是一種優(yōu)秀的分析濺射工具）到開發(fā)第一個用于二次離子質(zhì)譜（SIMS）的金團簇離子源，我們一直是該領(lǐng)域的先驅(qū)。
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GCIB 10S離子束產(chǎn)品參數(shù)
| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
GCIB 10S離子束詳細信息
GCIB 10S離子束
GCIB 10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束，用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。
GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實時集群大小測量和內(nèi)置樣本電流成像系統(tǒng)，以幫助您充分利用實驗。
GCIB 10S具有完整的泵送系統(tǒng)和獨立軟件，是一種栓接式升級，將集束束濺射的力量引入現(xiàn)有的真空儀器，如
XPS、SEM和SIMS。
Applications
GCIB 10S可去除不定碳和其他表面污染，而不會損壞基材，同時還可對有機物和聚合物等軟材料進行無損傷深度剖析。
下圖顯示了分別使用Arl和Ar2000蝕刻原始PET表面前后的C1s峰值。數(shù)據(jù)清楚地顯示了單原子Arl束(紅色)造成的化學(xué)損
傷，而光譜在暴露于Ar2000束(藍色)后幾乎保持不變。
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