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日本Santec公司于1987年成功研制出*一臺單一縱向震蕩外腔半導體激光器。Santec光測試設備包括可調諧激光器、可調諧濾波器、可編程光處理器、偏振消光比測試儀，空間光調制器、光衰減器和光延遲線，OCT系統(tǒng)。Santec在光通信領域，開展了與世界的傳輸設備制造商之間的業(yè)務。應用這項技術，開發(fā)、生產、銷售用于波長掃描型的SweptSourceOCT（以下簡稱SS–OCT）的光源、平衡探測器、探頭、干涉儀等設備。
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日本santec多通道測量光學功率計MPM系列產品參數(shù)
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
日本santec多通道測量光學功率計MPM系列詳細信息
日本santec多通道測量光學功率計MPM系列 Santec/日本 MPM-211/-212/-213/-215 特點介紹
MP-210H是一種新型多通道光學功率計 它非常適合測量多種光學特性 通道光學裝置。
MPM-210H可以同時進行 可容納20個頻道(每個MP-211模塊4個頻道) 很快高分辨率。
MPM-210H是多功能測量的理想方法。 包括密集波長分割的通道光學元件 多路多路(DWDM)、特設工作組、波長選擇開關 (西太平洋)及更多。
與桑特克系列 配有功率監(jiān)測器輸出的激光, 允許用戶完成高精度的日照測量 實時引用。
尤其是,MP-215適用于 動態(tài)光學元件的高速測量 范圍50分貝或以上。
新型多通道光學功率計 它的指令與以前的MP-210模式兼容, 切換到新的MP-210H就像交換一樣簡單 你的設備。
日本santec多通道測量光學功率計MPM系列 Santec/日本 MPM-211/-212/-213/-215 規(guī)格參數(shù)
高速測量
每個端口2內存緩沖區(qū)多達100萬個測井取樣點
高分辨率快速測量(100千赫)
高動態(tài)范圍
- 80 to + 10 dBm (MPM-211 / 212)
- 70 to + 5 dBmA (MPM-215)
高動態(tài)范圍(測井模式)
50 dB per scan (MPM-211 / 212)
每次掃描70分貝(MP-215)
電流表模塊(MP-213)
動態(tài)電流范圍-70-+10dbma
模擬產出(MP-212)
多達20個港口的測量
波長:1250-1650納米
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內容聲明：
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