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意大利GNR公司是一家專業(yè)的光譜分析儀器研發(fā)、制造企業(yè)，成立于1942年，總部位于意大利米蘭。GNR橫跨半個多世紀(jì)的歷史幾乎與現(xiàn)代光譜儀發(fā)展史*重合，從早期的攝譜儀到電子管光譜儀、從引入電腦技術(shù)的直讀光譜儀到現(xiàn)代CMOS直讀光譜儀、從落地式X射線熒光光譜儀到手持式X射線熒光光譜儀。
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多功能X射線衍射儀產(chǎn)品參數(shù)
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 多晶衍射儀 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
多功能X射線衍射儀詳細(xì)信息
EXPLORER 多功能X射線衍射儀
儀器簡介
EXPLORER 在眾多分析領(lǐng)域都可發(fā)揮優(yōu)良的性能，例如可以測量混合物質(zhì)的相態(tài)；檢測微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì)，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等。其模塊化設(shè)計(jì)，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
主要特點(diǎn)
■ 直接傳動高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動速度和精度；
■ 全部組件可以拆分為7個模塊，同時可以在5個獨(dú)立自由度上檢測樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；
■ 可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算；
■ 可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析；
■ 光學(xué)系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換；
■ 高分辨的反射技術(shù)，讓檢測厚度精確至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?span>
■ 將拋面鏡單色器與晶體開槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強(qiáng)度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光；
■ *、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單，軟件同時具有其他進(jìn)階功能，可以幫助用戶對復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析。
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