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光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù)
| 測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池 |
| 全向式收光系統(tǒng) | 50mm積分球 |
光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng)詳細(xì)信息
光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng) LQ-50X-EL介紹
目前 LED 發(fā)展所面臨的挑戰(zhàn)包含：
(1) 新型態(tài)的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰減快的特性
(2) 發(fā)光半寬（FWHM）較傳統(tǒng) LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布，使得輝度 (cd/m2) 換算 EQE 時誤差很大
(4) 發(fā)光波長超過視函數(shù)波段 (可見光范圍)，無法以光通量與輝度評價
其中「衰減快」與「紅外發(fā)光的準(zhǔn)確評價」，是與轉(zhuǎn)換效率高低最息息相關(guān)，因此光焱科技推出 LQ-50X-EL，采用單光子偵測技術(shù)、NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計與組件并擁有簡便的設(shè)計可與手套箱直接整合。
特色
光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng) LQ-50X-EL 的特色如下：
*采用單光子偵測技術(shù)，克服傳統(tǒng)光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特征，加快測試速度，以確保測試的準(zhǔn)確性與高效率。
*采用 NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計與組件，使其涵蓋波長可達(dá)到 1100 nm，更可擴(kuò)展到 1700 nm。
*設(shè)計簡便，并且可與手套箱直接整合，同時對于各種樣品形式都可以做很好的適配。
LQ-50X-EL 可快速測試每個電壓下的發(fā)光光譜，并可取得輻照度、輝度、CIE坐標(biāo)等多項參數(shù)值，實測無機(jī) LED 測試量測不重復(fù)性小于 0.2 %。
LQ-50X-EL 為 NIST 溯源，與國外校正的白光與綠光 LED 比對，差異值小于 0.5 %。
規(guī)格
標(biāo)準(zhǔn)配置：
*全向式收光系統(tǒng) (50 mm 積分球)
*增強(qiáng)型多信道光譜儀測試系統(tǒng)
*探針系統(tǒng)
*量測軟件
*工控機(jī)與屏幕
選配規(guī)格：
*紅外光譜擴(kuò)充模塊 (900 – 1700 nm)
*手套箱整合套件
應(yīng)用范圍
光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng) LQ-50X-EL 可用于：
*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
*Organic IR LED
*QD LED / QD Laser Diode
*VESEL Laser Diode
實證
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