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布魯克是全球X射線分析儀器及軟件的主要供應(yīng)商之一。主要應(yīng)用于科學研究和發(fā)展、工業(yè)過程控制以及半導(dǎo)體材料測量領(lǐng)域?？蔀榭蛻籼峁┝可矶ㄖ频臒o損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產(chǎn)品，例如石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業(yè)領(lǐng)域。
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Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀產(chǎn)品參數(shù)
| 價格區(qū)間 | 100萬-200萬 | 儀器類型 | 實驗室型 |
| 儀器種類 | 傅立葉變換型（FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 屬性 | 進口 |
Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀詳細信息
bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀
VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來佳的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質(zhì)光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現(xiàn)佳的靈敏度和穩(wěn)定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。
得益于VERTEX 80/80v 的光學設(shè)計，系統(tǒng)不僅具備佳的靈活性，還擁有zhuo越的性能。布魯克光學du一/無二的DigiTect™技術(shù)，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的最佳信噪比，這使得用戶可以輕松重復(fù)地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。
bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀
譜區(qū)擴展
VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預(yù)準直光學元件以及主動準直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。
BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。
您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。
光學分辨率
VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標準配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標點光譜分辨率，這足以進行大多數(shù)環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于先進的低溫工作，例如在晶體半導(dǎo)體材料或低壓力下進行氣相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現(xiàn)的最高光譜分辨率?？梢姽庾V范圍內(nèi)的高分辨率光譜顯示分辨率（波數(shù) + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。
多功能
創(chuàng)新的光學設(shè)計使靈活性和拓展能力最佳的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠紅外區(qū)域具有佳的靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學研究領(lǐng)域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的 PMA50 偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。
VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應(yīng)用的理想儀器。
全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導(dǎo)體和其它無機材料研究與開發(fā)應(yīng)用中，由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。
VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的端研究級儀器。其具創(chuàng)新的光學設(shè)計使得極為*的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1） 到遠紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、*的光譜和時間分辨率以及越的靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統(tǒng)能夠通過其頂尖的技術(shù)，為所有端研究應(yīng)用提供解決方案。
研究與開發(fā)
用于幅度/相位調(diào)制光譜的連續(xù)和步進掃描技術(shù)
用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術(shù)（步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）
對周期性有序微觀材料（即超材料）進行表征
用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜
用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化
酶催化實驗的停流方法
外接超高真空測量腔室
用于電極表面和電解質(zhì)原位研究的FTIR 光譜電化學
制藥
測定分子的絕對構(gòu)（VCD）
通過熱分析對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進行表征 (TGA-FTIR)
遠紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型
聚合物與化學
遠紅外譜區(qū)識別聚合物復(fù)合材料中的無機填料
聚合物動態(tài)和流變學研究
測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制 （中紅外光纖探頭）
識別無機礦物質(zhì)和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測與表征
結(jié)合偏振調(diào)制進行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科學
光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征
通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量的測定
淺能級雜質(zhì)的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進行質(zhì)量控制
外接附件、光源和檢測器
VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口，可連接外部激光器和同步輻射光源。此外，借助外部測量附件、光源和檢測器，您可輕松升級光譜儀的光學系統(tǒng)。包括如下內(nèi)容：
用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調(diào)制附件
PL II 光致發(fā)光模塊
RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
TGA-FT-IR 聯(lián)用
HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡
HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)
HTS-XT 高通量篩選eXTension
IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
外部樣品室XSA（真空或吹掃）
外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)
真空PL/PT/PR測量單元
低溫液氦或無低溫液體恒溫器
帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）
大型積分球
自動進樣器
外部遠紅外Hg燈光源
寬帶中紅外-遠紅外檢測器
固態(tài)遠紅外/太赫茲分束器
外部發(fā)射適配器
外部高性能中紅外光源
外部高性能可見光源
外部真空4位檢測器腔（用于真空光學系統(tǒng)）
適用于遠紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計
自動分束器切換單元（BMS-c）（真空光學系統(tǒng)）
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內(nèi)容聲明：
您訪問的Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀產(chǎn)品信息，由上海爾迪儀器科技有限公司自行發(fā)布提供，產(chǎn)品價格為面議，如您想了解更多關(guān)于Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀型號、參數(shù)、用途等信息，歡迎咨詢。
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