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移動(dòng)端訪問(wèn)更便捷ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術(shù)是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內(nèi),準(zhǔn)確而同時(shí)地測(cè)量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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ThetaMetrisis
代理商
548
北京市
2020/8/11 9:53:42
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 1-1千 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,電氣 |
廠家正式*代理商:岱美有限公司

FR-pRo: 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具
晶圓涂層測(cè)厚、圓晶薄膜厚度測(cè)量?jī)x
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
FR-pRo: 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具 是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層.FR-pRo 是為客戶(hù)量身定制的,并廣泛應(yīng)用于各種不同的應(yīng)用 。 FR-pRo:晶圓涂層測(cè)厚、圓晶薄膜厚度測(cè)量?jī)x是薄膜特性表征工具/光學(xué)參數(shù)測(cè)量/反射率測(cè)量/厚度測(cè)量/透射率測(cè)量,應(yīng)用于半導(dǎo)體材料厚度測(cè)量、非金屬材料厚度測(cè)量、光刻膠、光學(xué)掩膜、介電薄膜、晶圓表面涂層厚度測(cè)量、圓晶薄膜厚度測(cè)量、硅片表面涂層材料厚度測(cè)量,研究透光性材料的工具。
FR-pRo 可由用戶(hù)按需選擇裝配模塊,核心部件包括光源,光譜儀(適用于 200nm-2500nm 內(nèi)的任何光譜系統(tǒng))和控制單元,電子通訊模塊
此外,還有各種各種配件,比如:
? 用于測(cè)量吸收率/透射率和化學(xué)濃度的薄膜/試管架,
? 用于表征涂層特性的薄膜厚度工具,
? 用于控制溫度或液體環(huán)境下測(cè)量的加熱裝置或液體試劑盒,
? 漫反射和全反射積分球
通過(guò)不同模塊組合,終的配置可以滿(mǎn)足任
何終端用戶(hù)的需求 
二、應(yīng)用領(lǐng)域
o 彎曲基材(襯底)上的硬/軟涂層
o 聚合物涂層、粘合劑等
o 生物醫(yī)學(xué)( parylene—— 派瑞林,氣泡壁厚,等等 )
O 半導(dǎo)體生產(chǎn)制造:(光刻膠, 電介質(zhì),光子多層結(jié)構(gòu), poly-Si,Si, DLC )
o 光伏產(chǎn)業(yè)
o 液晶顯示
o 光學(xué)薄膜
o 聚合物
o 微機(jī)電系統(tǒng)和微光機(jī)電系統(tǒng)
o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明
三、FR-pRo:晶圓涂層測(cè)厚、圓晶薄膜厚度測(cè)量?jī)x 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具產(chǎn)品特點(diǎn)
o 單點(diǎn)分析(無(wú)需預(yù)設(shè)值)
o 動(dòng)態(tài)快速測(cè)量
o 包括光學(xué)參數(shù)(n和k,顏色)
o 為演示保存視頻
o 600 多種的預(yù)存材料
o 離線分析
o 免費(fèi)軟件更新

四、技術(shù)參數(shù)

五、FR-pRo: 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具工作原理
白光反射光譜(WLRS)測(cè)量方法是在一定波長(zhǎng)范圍內(nèi),分析垂直于樣品表面的入射光和從單層或多層堆疊薄膜反射的反射光譜的分析方法。
由界面&表面產(chǎn)生的反射光譜被用于確定獨(dú)立和附著于基底(在透明或部分/全反射基底上)的堆疊膜層的厚度、光學(xué)常數(shù)(n&k)等。

岱美有限公司成立于1989年,是數(shù)據(jù)存儲(chǔ),半導(dǎo)體,光學(xué),光伏和航空航天行業(yè)制造商和創(chuàng)新研發(fā)機(jī)構(gòu)的設(shè)備分銷(xiāo)商。
在21世紀(jì)初期,岱美已從我們?cè)谙愀鄣目偛繑U(kuò)展到亞洲,以滿(mǎn)足客戶(hù)的多樣化需求。在當(dāng)今化的市場(chǎng)中,我們的客戶(hù)包括連接?xùn)|南亞各國(guó)的綜合供應(yīng)鏈,我們的專(zhuān)業(yè)人員隨時(shí)準(zhǔn)備與他們會(huì)面。
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ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術(shù)是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內(nèi),準(zhǔn)確而同時(shí)地測(cè)量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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